| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 1. 绪论 | 第8-20页 |
| ·高温超导的应用 | 第8页 |
| ·高温超导电子器件的发展 | 第8-10页 |
| ·超导微波电子器件 | 第9页 |
| ·超导热效应器件(Bolometer器件) | 第9页 |
| ·约瑟夫森结器件 | 第9-10页 |
| ·约瑟夫森效应 | 第10-12页 |
| ·约瑟夫森效应的出现 | 第10页 |
| ·约瑟夫森效应的性质 | 第10-12页 |
| ·约瑟夫森结的分类 | 第12-17页 |
| ·双晶晶界结 | 第12-13页 |
| ·衬底台阶结 | 第13-14页 |
| ·双外延约瑟夫森结 | 第14-15页 |
| ·台阶边沿SNS结 | 第15页 |
| ·坡道边缘结 | 第15-16页 |
| ·微桥结 | 第16-17页 |
| ·SIS型约瑟夫森隧道结 | 第17页 |
| ·高温超导约瑟夫森结的研究现状 | 第17-18页 |
| ·本课题的目的和研究内容 | 第18-20页 |
| 2 实验方法 | 第20-26页 |
| ·实验方案 | 第20页 |
| ·主要实验设备 | 第20-24页 |
| ·薄膜制备设备 | 第20-22页 |
| a.提拉机(Dip-coater) | 第20-21页 |
| b.手套箱(Glove Box) | 第21页 |
| c.热处理炉(Tube Furnace) | 第21页 |
| d.其它常用仪器设备 | 第21-22页 |
| ·样品性能表征设备 | 第22-24页 |
| a.X-射线衍射仪 | 第22页 |
| b.场发射扫描电子显微镜 | 第22页 |
| c.超导Tc测试系统 | 第22-24页 |
| ·实验试剂 | 第24-26页 |
| 3. 在Y_2O_3薄膜上制备YBCO高温超导薄膜 | 第26-34页 |
| ·Y_2O_3和YBCO溶胶的制备 | 第26-27页 |
| ·Y_2O_3溶胶的制备 | 第26-27页 |
| ·YBCO溶胶的制备 | 第27页 |
| ·Y_2O_3薄膜的制备 | 第27-28页 |
| ·YBCO薄膜的制备 | 第28-29页 |
| ·YBCO薄膜性能测试与分析 | 第29-32页 |
| ·YBCO薄膜的XRD分析 | 第29-30页 |
| ·YBCO薄膜的SEM表面形貌分析 | 第30-31页 |
| ·YBCO薄膜的超导性能测试 | 第31-32页 |
| ·小结 | 第32-34页 |
| 4. YBa_2Cu_3O_(7-δ)约瑟夫森隧道结的制备与性能研究 | 第34-48页 |
| ·约瑟夫森隧道结的制备 | 第34-36页 |
| ·YBCO薄膜的制备 | 第34-36页 |
| ·Y_2O_3薄膜的制备 | 第36页 |
| ·YBCO薄膜的制备 | 第36页 |
| ·约瑟夫森结的性能测试与分析 | 第36-46页 |
| ·约瑟夫森结中YBCO超导层XRD分析 | 第37页 |
| ·约瑟夫森结中YBCO超导层表面SEM分析 | 第37-38页 |
| ·约瑟夫森隧道结的T_c测试 | 第38-39页 |
| ·约瑟夫森结的直流Ⅰ-Ⅴ曲线测试及分析 | 第39-42页 |
| a.测试系统组成与原理 | 第40页 |
| b.测试结果与分析 | 第40-41页 |
| c.不同绝缘层厚度下的Ⅰ-Ⅴ曲线 | 第41-42页 |
| ·约瑟夫森结的等效方程及解析解法 | 第42-46页 |
| a.约瑟夫森结的等效方程的简单推导 | 第42-44页 |
| b.约瑟夫森结的等效方程的解析解与实验结果的比较 | 第44-46页 |
| ·小结 | 第46-48页 |
| 5. 结论 | 第48-50页 |
| 致谢 | 第50-52页 |
| 参考文献 | 第52-58页 |
| 作者在硕士期间撰写和发表的论文 | 第58页 |