| 摘要 | 第3-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 引言 | 第9-10页 |
| 1.2 质子-电子混合导体氢分离膜的原理 | 第10-11页 |
| 1.3 钙钛矿质子导体概述 | 第11-15页 |
| 1.3.1 质子在钙钛矿结构中的进入机制 | 第13页 |
| 1.3.2 质子在钙钛矿结构中的传输机制 | 第13-15页 |
| 1.4 Ni–BaCeO_3基氢分离膜的研究现状 | 第15-18页 |
| 1.5 本论文研究目的及研究内容 | 第18-19页 |
| 2 In, Ta共掺对BaCeO_3基质子导体性能的影响 | 第19-29页 |
| 2.1 引言 | 第19页 |
| 2.2 实验部分 | 第19-21页 |
| 2.2.1 样品制备 | 第19-20页 |
| 2.2.2 性能测试 | 第20-21页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第21-28页 |
| 2.3.1 物相分析 | 第21-22页 |
| 2.3.2 微观形貌 | 第22-25页 |
| 2.3.3 化学稳定性测试 | 第25-27页 |
| 2.3.4 质子电导率 | 第27-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 3 In, Ta共掺对Ni–BaCeO_3基氢分离膜性能的影响 | 第29-43页 |
| 3.1 引言 | 第29-30页 |
| 3.2 实验部分 | 第30-32页 |
| 3.2.1 样品制备 | 第30页 |
| 3.2.2 性能测试 | 第30-32页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第32-41页 |
| 3.3.1 质子导体的相结构 | 第32页 |
| 3.3.2 质子导体的化学稳定性 | 第32-33页 |
| 3.3.3 质子导体的电导率 | 第33-35页 |
| 3.3.4 氢分离膜的微观形貌 | 第35-38页 |
| 3.3.5 氢分离膜的氢渗透率性能 | 第38-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-43页 |
| 4 In, Tb共掺对BaCeO_3基质子导体性能的影响 | 第43-53页 |
| 4.1 引言 | 第43页 |
| 4.2 实验部分 | 第43-44页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第44-50页 |
| 4.3.1 物相分析 | 第44页 |
| 4.3.2 微观形貌 | 第44-46页 |
| 4.3.3 化学稳定性 | 第46-47页 |
| 4.3.4 电导率 | 第47-48页 |
| 4.3.5 Ni-BCY25Tb5混合导体膜的性能研究 | 第48-50页 |
| 4.4 本章小结 | 第50-53页 |
| 5 In, Gd共掺对BaCeO_3基质子导体性能的影响 | 第53-59页 |
| 5.1 引言 | 第53页 |
| 5.2 实验部分 | 第53-54页 |
| 5.3 结果与讨论 | 第54-58页 |
| 5.3.1 物相分析 | 第54页 |
| 5.3.2 微观形貌 | 第54-56页 |
| 5.3.3 化学稳定性 | 第56-57页 |
| 5.3.4 电导率 | 第57-58页 |
| 5.4 本章小结 | 第58-59页 |
| 6 结论与展望 | 第59-61页 |
| 6.1 结论 | 第59页 |
| 6.2 展望 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-72页 |
| 附录 硕士研究生期间发表论文 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73页 |
