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氮化铝薄膜声表面波温度质量双参数传感器研究

摘要第3-5页
abstract第5-7页
符号说明第12-15页
1 绪论第15-43页
    1.1 声表面波(SAW)传感技术第15-18页
    1.2 SAW传感器结构与特性第18-24页
        1.2.1 SAW传播基本理论第18-20页
        1.2.2 SAW器件基本结构和工作原理第20-21页
        1.2.3 叉指换能器(IDT)的基本结构及特性第21-24页
    1.3 SAW传感器国内外研究进展第24-41页
        1.3.1 总体发展趋势第24-26页
        1.3.2 SAW温度传感器国内外研究进展第26-29页
        1.3.3 基于质量敏感机理的SAW传感器国内外研究进展第29-31页
        1.3.4 压电材料研究现状第31-40页
        1.3.5 IDT材料研究现状第40-41页
    1.4 主要研究内容第41-43页
2 氮化铝薄膜SAW传感器仿真及设计第43-75页
    2.1 SAW传感器设计参数及指标第43-45页
    2.2 IDT的仿真模型第45-49页
    2.3 IDT参数对SAW传感器特性影响第49-56页
        2.3.1 叉指对数对IDT特性的影响第49-51页
        2.3.2 金属化率对SAW传感器输出特性的影响第51-55页
        2.3.3 IDT厚度对SAW传感器输出特性的影响第55-56页
    2.4 氮化铝薄膜厚度对SAW传感器特性的影响第56-58页
    2.5 温度质量双参数SAW传感器结构参数设计第58-60页
    2.6 温度对SAW振型与SAW传感器特征频率的影响仿真第60-62页
    2.7 质量加载作用的SAW传感器有限元仿真第62-64页
        2.7.1 仿真模型与条件第62页
        2.7.2 仿真结果与分析第62-64页
    2.8 温度场和重力场耦合作用的SAW传感器三维有限元仿真第64-74页
        2.8.1 仿真模型第64-65页
        2.8.2 控制方程与边界条件第65-67页
        2.8.3 仿真步骤第67-70页
        2.8.4 仿真结果与讨论第70-74页
    2.9 小结第74-75页
3 SAW传感器制备与表征第75-79页
    3.1 SAW传感器制备第75-78页
        3.1.1 实验装置及工艺流程第76-77页
        3.1.2 制备结果第77-78页
    3.2 SAW传感器微观结构表征第78-79页
        3.2.1 微观结构表征方法第78页
        3.2.2 表征结果第78-79页
4 SAW传感器温度及质量敏感性能表征第79-92页
    4.1 仪器装置及测量方法第79-82页
    4.2 SAW传感器温度敏感特性表征第82-88页
        4.2.1 SAW传感器温度敏感在线测试实验设置第82页
        4.2.2 SAW传感器参数测量结果与数据处理第82-87页
        4.2.3 结果与讨论第87-88页
    4.3 SAW传感器质量敏感特性表征第88-90页
        4.3.1 质量沉积实验第88-89页
        4.3.2 传感器输出特性分析第89-90页
        4.3.3 质量敏感度计算第90页
    4.4 SAW传感器品质评价第90-91页
    4.5 小结第91-92页
5 SAW传感器信号处理电路系统设计第92-104页
    5.1 硬件电路设计第92-100页
        5.1.1 控制部分硬件电路设计第93-94页
        5.1.2 高频信号源硬件电路设计第94-96页
        5.1.3 SAW传感器模块电路第96-97页
        5.1.4 相位差测量硬件电路设计第97-98页
        5.1.5 频率差测量硬件电路设计第98-99页
        5.1.6 电源和显示部分硬件电路设计第99-100页
    5.2 软件程序设计第100-103页
        5.2.1 主程序设计第100-102页
        5.2.2 子程序设计第102-103页
    5.3 小结第103-104页
6 结论与展望第104-106页
    6.1 结论第104-105页
    6.2 创新点第105页
    6.3 展望第105-106页
参考文献第106-113页
附录第113-131页
    附录1.IDT厚度对SAW传感器阵型及特征频率的影响有限元仿真结果第113-116页
    附录2.AlN薄膜厚度对SAW传感器阵型及特征频率的影响仿真结果第116-118页
    附录3.温度对SAW传感器阵型及特征频率的影响仿真结果第118-122页
    附录4.质量加载对SAW传感器阵型及特征频率的影响仿真结果第122-125页
    附录5.部分软件程序第125-131页
致谢第131-133页
攻读学位期间发表的学术论文目录第133-134页

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