高精度嵌入式电导率仪的研制
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第12-17页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第12-14页 |
| 1.1.1 电导率仪国内外研究现状 | 第13-14页 |
| 1.1.2 电导率电极传感器的发展 | 第14页 |
| 1.2 论文研究工作 | 第14-16页 |
| 1.2.1 主要研究工作 | 第15页 |
| 1.2.2 课题创新点 | 第15-16页 |
| 1.3 本章小结 | 第16-17页 |
| 第二章 电导率测量原理 | 第17-27页 |
| 2.1 电导率基本概念 | 第17-20页 |
| 2.1.1 溶液电导率概述 | 第17页 |
| 2.1.2 影响溶液电导率的因素 | 第17-20页 |
| 2.2 电导率测量技术 | 第20-23页 |
| 2.2.1 常见的电导率测量技术 | 第20-22页 |
| 2.2.2 本文采用的电导率测量技术 | 第22-23页 |
| 2.3 电极传感器的设计 | 第23-26页 |
| 2.3.1 低电导电极传感器的设计 | 第23-24页 |
| 2.3.2 高电导电极传感器的设计 | 第24-25页 |
| 2.3.3 温度传感器的选型 | 第25-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 硬件电路设计 | 第27-48页 |
| 3.1 嵌入式系统介绍 | 第27页 |
| 3.2 微处理器选择 | 第27-28页 |
| 3.2.1 常见几种微处理器比较 | 第27-28页 |
| 3.2.2 微处理器说明 | 第28页 |
| 3.3 硬件电路整体设计 | 第28-29页 |
| 3.4 控制主板电路设计 | 第29-36页 |
| 3.4.1 时钟电路 | 第30-31页 |
| 3.4.2 通讯电路 | 第31-33页 |
| 3.4.3 显示电路 | 第33-34页 |
| 3.4.4 存储电路 | 第34-35页 |
| 3.4.5 JTAG调试电路 | 第35页 |
| 3.4.6 控制主板电源电路 | 第35-36页 |
| 3.5 变送板电路设计 | 第36-45页 |
| 3.5.1 激励信号产生电路 | 第36-37页 |
| 3.5.2 电导信号检测电路 | 第37-38页 |
| 3.5.3 控制信号隔离电路 | 第38-40页 |
| 3.5.4 正信号处理电路 | 第40-41页 |
| 3.5.5 负信号处理电路 | 第41页 |
| 3.5.6 ADC采集电路 | 第41-43页 |
| 3.5.7 温度测量电路 | 第43-44页 |
| 3.5.8 变送板电源电路 | 第44-45页 |
| 3.6 印制电路板设计 | 第45-47页 |
| 3.6.1 电路原理图设计 | 第45-46页 |
| 3.6.2 电路PCB设计 | 第46-47页 |
| 3.7 本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 系统软件设计 | 第48-73页 |
| 4.1 软件开发环境 | 第48-49页 |
| 4.1.1 软件集成开发环境 | 第48页 |
| 4.1.2 基于固件库的软件开发 | 第48-49页 |
| 4.2 软件整体设计 | 第49-50页 |
| 4.3 系统初始化 | 第50页 |
| 4.4 PWM产生程序 | 第50-53页 |
| 4.5 通讯程序 | 第53-57页 |
| 4.5.1 串口通讯程序 | 第53-54页 |
| 4.5.2 CAN通讯程序 | 第54-55页 |
| 4.5.3 SPI通讯 | 第55-57页 |
| 4.6 SD卡存储程序 | 第57-59页 |
| 4.7 AD采样控制程序 | 第59-67页 |
| 4.7.1 AD7124-8初始化 | 第59-61页 |
| 4.7.2 AD7124-8滤波器选择 | 第61-62页 |
| 4.7.3 AD7124-8数据输出 | 第62-66页 |
| 4.7.4 温度计算程序 | 第66-67页 |
| 4.8 信号滤波程序 | 第67-68页 |
| 4.9 系统显示程序设计 | 第68-71页 |
| 4.9.1 STemWin介绍 | 第68页 |
| 4.9.2 界面显示程序 | 第68-70页 |
| 4.9.3 汉字显示程序 | 第70-71页 |
| 4.10 本章小结 | 第71-73页 |
| 第五章 电导率仪测试及数据分析 | 第73-87页 |
| 5.1 硬件电路调试 | 第73-74页 |
| 5.1.1 关键信号电路测试 | 第73-74页 |
| 5.2 软件功能调试 | 第74-79页 |
| 5.2.1 通讯测试 | 第76-77页 |
| 5.2.2 显示测试 | 第77-78页 |
| 5.2.3 存储功能测试 | 第78-79页 |
| 5.3 电极温度测量 | 第79-81页 |
| 5.3.1 温度测量校准 | 第79-80页 |
| 5.3.2 温度补偿 | 第80-81页 |
| 5.4 电极传感器标定 | 第81-85页 |
| 5.4.1 等效电阻测量 | 第81-84页 |
| 5.4.2 电极常数标定 | 第84-85页 |
| 5.5 数据分析 | 第85-86页 |
| 5.5.1 精度测试 | 第85页 |
| 5.5.2 电导率仪的重复性 | 第85-86页 |
| 5.6 本章小结 | 第86-87页 |
| 结论与展望 | 第87-89页 |
| 1 结论 | 第87页 |
| 2 展望 | 第87-89页 |
| 参考文献 | 第89-94页 |
| 附录 | 第94-98页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第98-99页 |
| 致谢 | 第99-100页 |
| 附件 | 第100页 |
