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太赫兹探测器读出电路设计

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第10-15页
    1.1 太赫兹波及其特性第10-11页
    1.2 太赫兹技术的应用第11-12页
    1.3 太赫兹技术的发展第12-13页
    1.4 主要研究内容和工作安排第13-15页
第二章 太赫兹探测原理第15-29页
    2.1 太赫兹波的产生第15-20页
        2.1.1 宽频带太赫兹脉冲源第15-18页
            2.1.1.1 光电导天线第15-16页
            2.1.1.2 光整流第16-17页
            2.1.1.3 半导体表面产生太赫兹波脉冲第17-18页
        2.1.2 窄频带太赫兹连续波源第18-20页
            2.1.2.1 耿氏振荡器与倍频器第18-19页
            2.1.2.2 太赫兹气体激光器第19-20页
    2.2 太赫兹探测技术第20-24页
        2.2.1 相干探测技术第21-23页
        2.2.2 非相干探测技术第23-24页
    2.3 太赫兹热释电探测原理第24-27页
        2.3.1 热释电效应第24-25页
        2.3.2 热释电探测原理第25-26页
        2.3.3 热释电材料第26-27页
    2.4 本章小结第27-29页
第三章 热释电太赫兹探测器单元设计第29-40页
    3.1 前端放大电路设计第29-32页
        3.1.1 电路原理及结构第29-30页
        3.1.2 元件介绍第30-31页
        3.1.3 参数选择第31-32页
    3.2 单元封装设计第32-36页
        3.2.1 电磁屏蔽原理第32-33页
        3.2.2 单元器件封装设计第33-36页
    3.3 测试电路设计第36-39页
        3.3.1 电路原理及结构第36-38页
        3.3.2 元件介绍及参数选择第38-39页
    3.4 本章小结第39-40页
第四章 热释电太赫兹线列探测器电路设计第40-49页
    4.1 线列电路设计第40-47页
        4.1.1 线列前端设计第40-43页
            4.1.1.1 屏蔽盒的制作第40-41页
            4.1.1.2 线列敏感元探头封装结构设计第41-43页
        4.1.2 电路原理及结构第43-47页
    4.2 电路板的设计第47-48页
    4.3 本章小结第48-49页
第五章 器件性能测试及结果分析第49-59页
    5.1 测试平台搭建第49-50页
        5.1.1 探测单元响应电压测试系统第49-50页
        5.1.2 探测单元噪声测试系统第50页
    5.2 性能测试结果与分析第50-58页
        5.2.1 频率响应特性测试第50-54页
        5.2.2 探测单元受辐照辐功率计算第54页
        5.2.3 噪声功率谱密度测试第54-56页
        5.2.4 响应均匀性测试第56-58页
        5.2.5 其他相关性能第58页
    5.3 本章小结第58-59页
第六章 结论与展望第59-61页
    6.1 结论第59页
    6.2 发展与展望第59-61页
致谢第61-62页
参考文献第62-66页
攻读硕士学位期间取得的成果第66-67页

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