太赫兹探测器读出电路设计
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-15页 |
1.1 太赫兹波及其特性 | 第10-11页 |
1.2 太赫兹技术的应用 | 第11-12页 |
1.3 太赫兹技术的发展 | 第12-13页 |
1.4 主要研究内容和工作安排 | 第13-15页 |
第二章 太赫兹探测原理 | 第15-29页 |
2.1 太赫兹波的产生 | 第15-20页 |
2.1.1 宽频带太赫兹脉冲源 | 第15-18页 |
2.1.1.1 光电导天线 | 第15-16页 |
2.1.1.2 光整流 | 第16-17页 |
2.1.1.3 半导体表面产生太赫兹波脉冲 | 第17-18页 |
2.1.2 窄频带太赫兹连续波源 | 第18-20页 |
2.1.2.1 耿氏振荡器与倍频器 | 第18-19页 |
2.1.2.2 太赫兹气体激光器 | 第19-20页 |
2.2 太赫兹探测技术 | 第20-24页 |
2.2.1 相干探测技术 | 第21-23页 |
2.2.2 非相干探测技术 | 第23-24页 |
2.3 太赫兹热释电探测原理 | 第24-27页 |
2.3.1 热释电效应 | 第24-25页 |
2.3.2 热释电探测原理 | 第25-26页 |
2.3.3 热释电材料 | 第26-27页 |
2.4 本章小结 | 第27-29页 |
第三章 热释电太赫兹探测器单元设计 | 第29-40页 |
3.1 前端放大电路设计 | 第29-32页 |
3.1.1 电路原理及结构 | 第29-30页 |
3.1.2 元件介绍 | 第30-31页 |
3.1.3 参数选择 | 第31-32页 |
3.2 单元封装设计 | 第32-36页 |
3.2.1 电磁屏蔽原理 | 第32-33页 |
3.2.2 单元器件封装设计 | 第33-36页 |
3.3 测试电路设计 | 第36-39页 |
3.3.1 电路原理及结构 | 第36-38页 |
3.3.2 元件介绍及参数选择 | 第38-39页 |
3.4 本章小结 | 第39-40页 |
第四章 热释电太赫兹线列探测器电路设计 | 第40-49页 |
4.1 线列电路设计 | 第40-47页 |
4.1.1 线列前端设计 | 第40-43页 |
4.1.1.1 屏蔽盒的制作 | 第40-41页 |
4.1.1.2 线列敏感元探头封装结构设计 | 第41-43页 |
4.1.2 电路原理及结构 | 第43-47页 |
4.2 电路板的设计 | 第47-48页 |
4.3 本章小结 | 第48-49页 |
第五章 器件性能测试及结果分析 | 第49-59页 |
5.1 测试平台搭建 | 第49-50页 |
5.1.1 探测单元响应电压测试系统 | 第49-50页 |
5.1.2 探测单元噪声测试系统 | 第50页 |
5.2 性能测试结果与分析 | 第50-58页 |
5.2.1 频率响应特性测试 | 第50-54页 |
5.2.2 探测单元受辐照辐功率计算 | 第54页 |
5.2.3 噪声功率谱密度测试 | 第54-56页 |
5.2.4 响应均匀性测试 | 第56-58页 |
5.2.5 其他相关性能 | 第58页 |
5.3 本章小结 | 第58-59页 |
第六章 结论与展望 | 第59-61页 |
6.1 结论 | 第59页 |
6.2 发展与展望 | 第59-61页 |
致谢 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-66页 |
攻读硕士学位期间取得的成果 | 第66-67页 |