位移传感器频率特性测试方法研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 位移传感器的研究意义 | 第8-9页 |
| 1.2 LVDT 国内外研究现状与分析 | 第9-12页 |
| 1.2.1 LVDT 国内研究现状与分析 | 第9-11页 |
| 1.2.2 LVDT 国外研究现状与分析 | 第11-12页 |
| 1.2.3 LVDT 国内外研究现状分析综述 | 第12页 |
| 1.3 课题主要研究内容 | 第12-14页 |
| 第2章 差动变压器式位移传感器的理论基础 | 第14-27页 |
| 2.1 LVDT 的优点与结构组成 | 第14-15页 |
| 2.1.1 LVDT 优点 | 第14页 |
| 2.1.2 LVDT 结构组成 | 第14-15页 |
| 2.2 等效电路分析 | 第15-21页 |
| 2.2.1 LVDT 基本原理 | 第15-16页 |
| 2.2.2 LVDT 等效电路分析 | 第16-18页 |
| 2.2.3 LVDT 次级线圈输出特性数学模型 | 第18-21页 |
| 2.3 LVDT 解调单元分析 | 第21-24页 |
| 2.3.1 LVDT 解调过程 | 第21-23页 |
| 2.3.2 LVDT 解调单元特性分析 | 第23-24页 |
| 2.4 LVDT 性能指标 | 第24-27页 |
| 2.4.1 静态特性指标 | 第24-25页 |
| 2.4.2 动态特性分析 | 第25-27页 |
| 第3章 LVDT 频率特性测试方法数学原理 | 第27-40页 |
| 3.1 LVDT 频率特性测试激励信号分析与选择 | 第27-31页 |
| 3.1.1 正弦振动信号 | 第27-28页 |
| 3.1.2 随机振动信号 | 第28-31页 |
| 3.2 LVDT 频率特性测试方法 | 第31-40页 |
| 3.2.1 单点正弦测试法 | 第31-33页 |
| 3.2.2 正弦扫频测试方法 | 第33-38页 |
| 3.2.3 限带白噪声测试法 | 第38-40页 |
| 第4章 LVDT 频率特性测试原理与软件设计 | 第40-47页 |
| 4.1 LVDT 频率特性测试原理 | 第40-41页 |
| 4.1.1 LVDT 频率特性测试系统组成 | 第40-41页 |
| 4.1.2 LVDT 频率特性测试原理 | 第41页 |
| 4.2 测试程序设计 | 第41-47页 |
| 4.2.1 系统测试程序流程图 | 第41-42页 |
| 4.2.2 位移信号与响应信号采集 | 第42-43页 |
| 4.2.3 采集信号数据处理 | 第43-44页 |
| 4.2.4 频率特性模块 | 第44-45页 |
| 4.2.5 显示模块 | 第45-46页 |
| 4.2.6 测试结果保存 | 第46-47页 |
| 第5章 LVDT 频率特性试验 | 第47-54页 |
| 5.1 加速度传感器的标定 | 第47页 |
| 5.2 LVDT 静态特性测试 | 第47-49页 |
| 5.3 LVDT 频率特性测试 | 第49-52页 |
| 5.3.1 单点正弦测试法 | 第49-50页 |
| 5.3.2 正弦扫频测试法 | 第50-51页 |
| 5.3.3 限带白噪声测试 | 第51-52页 |
| 5.4 试验结果对比分析 | 第52-53页 |
| 5.5 本章小结 | 第53-54页 |
| 第6章 总结与展望 | 第54-55页 |
| 6.1 总结 | 第54页 |
| 6.2 展望 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第59-60页 |
| 详细摘要 | 第60-65页 |
