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偏振相关损耗测量中偏振控制的研究

摘要第3-4页
Abstract第4页
第1章 绪论第7-12页
    1.1 引言第7-8页
    1.2 偏振控制的研究现状和背景第8-10页
        1.2.1 光的偏振第8页
        1.2.2 偏振态控制的发展第8-9页
        1.2.3 偏振态控制的应用第9-10页
    1.3 偏振相关损耗及其影响第10-11页
    1.4 本文结构安排和研究工作第11-12页
第2章 偏振光和光纤偏振相关损耗测试系统的理论研究第12-25页
    2.1 引言第12页
    2.2 偏振光理论及偏振效应第12-19页
        2.2.1 琼斯矢量第12-15页
        2.2.2 斯托克斯矢量第15-18页
        2.2.3 琼斯矩阵和穆勒矩阵第18-19页
    2.3 偏振相关损耗测量系统及方法第19-24页
        2.3.1 全状态扫描法及测试系统第19-20页
        2.3.2 Muller矩阵法及测试系统第20-24页
    2.4 本章小结第24-25页
第3章 偏振控制器及其原理第25-35页
    3.1 引言第25页
    3.2 偏振控制器概述第25-28页
    3.3 挤压光纤型控制理论第28-30页
    3.4 挤压光纤型偏振控制器PolaRITE Ⅲ第30-31页
    3.5 偏振控制器PCD-MO2工作原理介绍第31-34页
    3.6 本章小结第34-35页
第4章 基于偏振控制器电控技术的控制模块软硬件设计第35-48页
    4.1 引言第35页
    4.2 偏振控制器驱动电路整体思想第35-36页
    4.3 STC12C5A08S2对偏振控纖控制的软硬件设计第36-40页
        4.3.1 STC12C5A08S2单片机第36-37页
        4.3.2 单片机与计算机的通信第37-38页
        4.3.3 单片机程序的流程及软硬件设计第38-40页
    4.4 STM32对偏振控制器控制的硬件设计第40-47页
        4.4.1 控制芯片STM32第40-42页
        4.4.2 波形发生器MAX038第42-43页
        4.4.3 放大电路的设计第43-44页
        4.4.4 电控模块与PC的通信第44-45页
        4.4.5 电控模块的电源第45-47页
    4.5 本章小结第47-48页
第5章 偏振相关损耗和偏振的测试实验第48-53页
    5.1 振偏振相关损耗和测试时间的关系第48-49页
    5.2 偏振相关损耗测试误差分析第49-51页
    5.3 功率和时间关系第51-52页
    5.4 本章小结第52-53页
第6章 总结第53-54页
参考文献第54-57页
致谢第57-58页

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