| 摘要 | 第4-6页 |
| 英文摘要 | 第6-7页 |
| 第1章 引言 | 第11-16页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外的研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 论文的研究目标和主要工作 | 第13-14页 |
| 1.4 论文结构安排 | 第14页 |
| 1.5 本章小结 | 第14-16页 |
| 第2章 中子发生器的结构及原理 | 第16-20页 |
| 2.1 中子发生器基本结构与组成 | 第16页 |
| 2.2 密封中子管结构 | 第16-17页 |
| 2.2.1 储存器 | 第17页 |
| 2.2.2 离子源 | 第17页 |
| 2.2.3 加速极 | 第17页 |
| 2.2.4 靶 | 第17页 |
| 2.3 中子发生器电路构成 | 第17-18页 |
| 2.3.1 中子发生器主控电路 | 第18页 |
| 2.3.2 储存器电源 | 第18页 |
| 2.3.3 离子源电源 | 第18页 |
| 2.3.4 加速极电源 | 第18页 |
| 2.3.5 中子计数采集电路 | 第18页 |
| 2.4 中子发生器工作原理与操作说明 | 第18-19页 |
| 2.5 本章小结 | 第19-20页 |
| 第3章 控制系统的硬件设计 | 第20-38页 |
| 3.1 控制系统硬件部分总体设计 | 第20页 |
| 3.2 核心控制板的设计 | 第20-25页 |
| 3.2.1 主控芯片的选型 | 第21-22页 |
| 3.2.2 供电电源 | 第22页 |
| 3.2.3 TMS320F2810最小系统 | 第22-23页 |
| 3.2.4 计时电路 | 第23-25页 |
| 3.3 驱动电路板的设计 | 第25-33页 |
| 3.3.1 运放供电 | 第26页 |
| 3.3.2 DA转换电路 | 第26-27页 |
| 3.3.3 AD采集电路 | 第27-28页 |
| 3.3.4 串口通信电路 | 第28-29页 |
| 3.3.5 数字信号隔离电路 | 第29页 |
| 3.3.6 逻辑电路 | 第29-30页 |
| 3.3.7 指示灯电路 | 第30-31页 |
| 3.3.8 模拟开关电路 | 第31-33页 |
| 3.4 三路供电电源的设计思路 | 第33-35页 |
| 3.4.1 储存器电源设计 | 第33-34页 |
| 3.4.2 离子源电源设计 | 第34页 |
| 3.4.3 加速极电源设计 | 第34-35页 |
| 3.5 He-3中子探测器 | 第35页 |
| 3.6 工控机 | 第35-36页 |
| 3.7 控制系统硬件安装注意事项 | 第36-37页 |
| 3.8 本章小结 | 第37-38页 |
| 第4章 控制系统的软件设计 | 第38-57页 |
| 4.1 下位机程序设计 | 第38-47页 |
| 4.1.1 集成开发环境CCS6. | 第39-40页 |
| 4.1.2 Modbus协议 | 第40-43页 |
| 4.1.3 AD采集程序 | 第43-44页 |
| 4.1.4 PWM输出程序 | 第44-45页 |
| 4.1.5 通信程序 | 第45页 |
| 4.1.6 计时程序 | 第45-46页 |
| 4.1.7 看门狗程序 | 第46-47页 |
| 4.2 上位机监控软件 | 第47-56页 |
| 4.2.1 虚拟仪器及其软件开发平台LabVIEW | 第48-49页 |
| 4.2.2 用户登录模块 | 第49-50页 |
| 4.2.3 调控与监测模块 | 第50-51页 |
| 4.2.4 模式选择模块 | 第51页 |
| 4.2.5 重要数据存储模块 | 第51-52页 |
| 4.2.6 中子探测器数据解析模块 | 第52-53页 |
| 4.2.7 通信模块 | 第53-54页 |
| 4.2.8 错误诊断和自保护机制 | 第54-55页 |
| 4.2.9 系统帮助模块 | 第55-56页 |
| 4.3 本章小结 | 第56-57页 |
| 第5章 中子计数反馈的控制算法 | 第57-66页 |
| 5.1 设计平台的选取 | 第57页 |
| 5.2 算法具体设计 | 第57-65页 |
| 5.2.1 参数设置 | 第58页 |
| 5.2.2 预热过程 | 第58-59页 |
| 5.2.3 稳定中子产额的方法 | 第59-65页 |
| 5.3 本章小结 | 第65-66页 |
| 第6章 系统故障及其处理 | 第66-69页 |
| 6.1 控制系统设计、调试时相关问题 | 第66-67页 |
| 6.2 设备组装时相关问题 | 第67-68页 |
| 6.3 设备整体测试时相关问题 | 第68页 |
| 6.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 第7章 系统测试及结果分析 | 第69-78页 |
| 7.1 三路电源的测试 | 第69-71页 |
| 7.2 中子发生器整体性能测试 | 第71-77页 |
| 7.2.1 中子发生器产额 | 第71-72页 |
| 7.2.2 中子发生器寿命 | 第72-73页 |
| 7.2.3 中子产额稳定性 | 第73-77页 |
| 7.3 本章小结 | 第77-78页 |
| 第8章 总结与展望 | 第78-80页 |
| 8.1 总结 | 第78-79页 |
| 8.2 展望 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-83页 |
| 附录1 | 第83-84页 |
| 附录2 | 第84-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
| 在学期间主要科研成果 | 第86页 |