| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 能源问题和核聚变能 | 第10页 |
| 1.2 受控核聚变 | 第10-11页 |
| 1.3 托卡马克装置 | 第11页 |
| 1.4 环流器二号 | 第11-13页 |
| 1.5 托卡马克逃逸电子及其研究意义 | 第13-14页 |
| 1.6 托卡马克逃逸电子研究现状 | 第14页 |
| 1.7 内容安排 | 第14-16页 |
| 第二章 托卡马克逃逸电子理论 | 第16-28页 |
| 2.1 逃逸电子的产生机制 | 第16-23页 |
| 2.1.1 初级产生机制 | 第17-20页 |
| 2.1.1.1 库伦碰撞 | 第17页 |
| 2.1.1.2 逃逸阈值 | 第17-18页 |
| 2.1.1.3 初级产生机制下的逃逸电子产生速率 | 第18-20页 |
| 2.1.2 Hot-tail产生机制 | 第20-21页 |
| 2.1.3 次级产生机制 | 第21-23页 |
| 2.2 逃逸电子轨道 | 第23-25页 |
| 2.3 逃逸电子能量极限 | 第25-28页 |
| 2.3.1 同步辐射 | 第25页 |
| 2.3.2 轨道漂移 | 第25-26页 |
| 2.3.3 约束时间 | 第26页 |
| 2.3.4 磁场波纹度 | 第26页 |
| 2.3.5 不稳定性 | 第26-28页 |
| 第三章 逃逸电子相关诊断设备介绍 | 第28-37页 |
| 3.1 逃逸电子的探测手段 | 第28-29页 |
| 3.2 硬X射线强度测量系统 | 第29-31页 |
| 3.3 中子测量系统 | 第31-34页 |
| 3.4 电子回旋辐射测量系统 | 第34-35页 |
| 3.5 软X射线成像系统 | 第35页 |
| 3.6 其他相关参数诊断设备简介 | 第35-37页 |
| 第四章 逃逸电子产生的阈值实验研究 | 第37-46页 |
| 4.1 临界逃逸理论分析 | 第37-39页 |
| 4.2 逃逸阈值实验研究 | 第39-44页 |
| 4.2.1 临界电场强度和临界电子密度 | 第39-42页 |
| 4.2.2 初级产生机制下逃逸电子增长率的实验研究 | 第42-43页 |
| 4.2.3 逃逸阈值实验分析方法存在的问题 | 第43-44页 |
| 4.2.4 提高电子密度对逃逸产生的影响 | 第44页 |
| 4.3 本章小结 | 第44-46页 |
| 第五章 电子回旋共振加热下逃逸电子行为研究 | 第46-56页 |
| 5.1 ECRH系统简介 | 第46-47页 |
| 5.2 ECRH下等离子体电子的变化 | 第47-50页 |
| 5.3 ECRH抑制或减缓逃逸产生 | 第50-54页 |
| 5.3.1 ECRH抑制或减缓电子逃逸 | 第50-53页 |
| 5.3.2 ECRH功率和持续时间对逃逸抑制效果的影响 | 第53-54页 |
| 5.4 本章小结 | 第54-56页 |
| 第六章 等离子体破裂期间逃逸电子实验研究 | 第56-65页 |
| 6.1 等离子体破裂介绍 | 第56-57页 |
| 6.2 破裂期间逃逸电子产生的实验研究 | 第57-64页 |
| 6.2.1 破裂期间逃逸电流产生条件的实验研究 | 第58-61页 |
| 6.2.2 典型破裂逃逸期间各阶段分析 | 第61-64页 |
| 6.3 本章小结 | 第64-65页 |
| 第七章 总结和展望 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第72-73页 |