| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 图像传感器概述 | 第10-11页 |
| 1.2 CMOS图像传感器国内外发展趋势及研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 图像传感器暗场测试技术的研究意义及概述 | 第12-15页 |
| 1.3.1 图像传感器的明场测试技术 | 第13-14页 |
| 1.3.2 图像传感器的暗场测试技术 | 第14页 |
| 1.3.3 暗场测试技术特点分析 | 第14-15页 |
| 1.4 课题研究的内容 | 第15-16页 |
| 第2章 CMOS图像传感器暗场测试的理论依据 | 第16-33页 |
| 2.1 CMOS图像传感器的结构 | 第16-17页 |
| 2.2 光子转换理论概述 | 第17-19页 |
| 2.3 噪声等效模型 | 第19-21页 |
| 2.4 CMOS图像传感器的噪声分析 | 第21-27页 |
| 2.4.1 散粒噪声 | 第21-24页 |
| 2.4.2 法诺噪声 | 第24-26页 |
| 2.4.3 热噪声 | 第26页 |
| 2.4.4 固定模式噪声 | 第26-27页 |
| 2.5 EMVA 1288测试标准简介 | 第27-30页 |
| 2.6 光子转换理论的数学模型 | 第30-31页 |
| 2.7 基于暗场灰度数据的性能参数计算方法 | 第31-32页 |
| 2.8 本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 CMOS图像传感器关键参数的暗场反演方法 | 第33-45页 |
| 3.1 遗传算法概述 | 第33页 |
| 3.2 遗传算法的基本操作 | 第33-40页 |
| 3.2.1 编码 | 第33-35页 |
| 3.2.2 初始种群 | 第35页 |
| 3.2.3 适应度函数 | 第35-36页 |
| 3.2.4 选择算子 | 第36-37页 |
| 3.2.5 交叉算子 | 第37-38页 |
| 3.2.6 变异算子 | 第38页 |
| 3.2.7 参数控制 | 第38-39页 |
| 3.2.8 遗传算法的流程 | 第39-40页 |
| 3.3 遗传算法的特点 | 第40页 |
| 3.4 遗传算法的不足 | 第40-41页 |
| 3.5 自适应遗传算法 | 第41-42页 |
| 3.5.1 自适应遗传算法的原理 | 第41页 |
| 3.5.2 自适应交叉概率及变异概率 | 第41-42页 |
| 3.6 结合暗场测试数学模型的自适应遗传算法流程 | 第42-44页 |
| 3.7 本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 图像传感器暗场测试系统构成 | 第45-50页 |
| 4.1 暗场测试系统结构 | 第45页 |
| 4.2 数据采集及控制电路板 | 第45-47页 |
| 4.3 上位机 | 第47-49页 |
| 4.4 本章小结 | 第49-50页 |
| 第5章 图像传感器暗场测试仿真 | 第50-65页 |
| 5.1 测试流程概述 | 第50-51页 |
| 5.2 测试前准备工作 | 第51页 |
| 5.3 暗场数据采集 | 第51-55页 |
| 5.4 数据结果分析及对比 | 第55-64页 |
| 5.4.1 基本遗传算法反演的结果 | 第55-57页 |
| 5.4.2 自适应遗传算法反演 | 第57-61页 |
| 5.4.3 暗场曲线转换法(DTC) | 第61-63页 |
| 5.4.4 明场测试与暗场测试结果对比 | 第63-64页 |
| 5.5 本章小结 | 第64-65页 |
| 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文和取得的科研成果 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71页 |