| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-22页 |
| 1.1 超导的基本特征 | 第11-13页 |
| 1.1.1 零电阻效应 | 第11页 |
| 1.1.2 迈纳斯效应 | 第11-12页 |
| 1.1.3 宏观量子效应 | 第12-13页 |
| 1.2 超导材料的发展及应用 | 第13-16页 |
| 1.2.1 超导材料的发展 | 第13-14页 |
| 1.2.2 超导材料的应用 | 第14-16页 |
| 1.2.2.1 弱电领域的应用 | 第14-15页 |
| 1.2.2.2 强电领域的应用 | 第15-16页 |
| 1.3 Bi系高温超导材料的研究现状 | 第16-19页 |
| 1.3.1 Bi系超导体的超导机制研究 | 第16-17页 |
| 1.3.2 Bi系超导体的结构研究 | 第17-19页 |
| 1.4 Bi系超导体的掺杂研究 | 第19-20页 |
| 1.5 本文的研究意义和内容 | 第20-22页 |
| 1.5.1 研究意义 | 第20-21页 |
| 1.5.2 研究内容 | 第21-22页 |
| 第2章 实验原理和分析方法 | 第22-34页 |
| 2.1 引言 | 第22页 |
| 2.2 样品的制备原理 | 第22-24页 |
| 2.3 样品的表征手段 | 第24-34页 |
| 2.3.1 X射线衍射 | 第24-26页 |
| 2.3.2 扫描电子显微镜 | 第26-28页 |
| 2.3.3 透射电子显微镜(TEM)以及能谱仪(EDS) | 第28-34页 |
| 2.3.3.1 透射电镜样品的制备 | 第28-30页 |
| 2.3.3.2 电子衍射原理 | 第30-32页 |
| 2.3.3.3 X射线能量色散谱(EDS) | 第32页 |
| 2.4.4.4 透射电子显微镜(TEM)原理 | 第32-34页 |
| 第3章 Ni元素的存在形态分析 | 第34-51页 |
| 3.1 引言 | 第34-35页 |
| 3.2 样品的制备 | 第35-37页 |
| 3.2.1 实验药品 | 第35-36页 |
| 3.2.2 实验粉体的制备 | 第36-37页 |
| 3.3 样品的XRD物相分析 | 第37-42页 |
| 3.4 样品的SEM形貌分析 | 第42-43页 |
| 3.5 样品的TEM形貌分析 | 第43-50页 |
| 3.4.1 直径d>300 nm | 第44-46页 |
3.4.2 直径100 nm| 第46-47页 | |
| 3.4.3 直径d<100 nm | 第47-50页 |
| 3.6 本章结论 | 第50-51页 |
| 第4章 NiO与Bi-2212之间的取向关系 | 第51-62页 |
| 4.1 引言 | 第51-52页 |
| 4.2 NiO与Bi-2212相理论上一种可能的取向关系 | 第52-53页 |
| 4.3 NiO与Bi-2212相实验验证的两种取向关系 | 第53-60页 |
| 4.3.1 第一种匹配关系 | 第53-56页 |
| 4.3.2 第二种匹配关系 | 第56-60页 |
| 4.4 本章结论 | 第60-62页 |
| 第5章 结论 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
