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基于RRAM模拟电路模块的研究与设计

致谢第5-6页
摘要第6-7页
ABSTRACT第7-8页
1 绪论第12-24页
    1.1 研究背景及意义第12-21页
        1.1.1 新型非挥发存储器第14-18页
        1.1.2 半导体存储器的性能指标第18-19页
        1.1.3 选题意义第19-21页
    1.2 国内外研究进展第21-22页
        1.2.1 研究现状第21-22页
        1.2.2 发展趋势第22页
    1.3 论文内容及结构第22-24页
2 阻变随机存储器概述第24-38页
    2.1 阻变随机存储器的阻变机理第24-28页
        2.1.1 导电细丝机制第24-26页
        2.1.2 界面势垒机制第26页
        2.1.3 电荷缺陷机制第26-28页
    2.2 存储单元的结构第28-32页
        2.2.1 1R结构第29-30页
        2.2.2 1S1R结构第30-31页
        2.2.3 1T1R结构第31-32页
    2.3 阻变随机存储器中的操作第32-34页
    2.4 阻变随机存储器的设计要点第34-36页
        2.4.1 多电压值需求和电源管理模块第34页
        2.4.2 过写和写验证第34-36页
        2.4.3 读干扰和灵敏单端读出第36页
        2.4.4 模型缺失和研究第36页
    2.5 本章小结第36-38页
3 阻变随机存储器中的电源管理模块第38-72页
    3.1 电源管理模块概述第38-39页
    3.2 LDO的基本模块第39-48页
        3.2.1 LDO的工作原理第39-40页
        3.2.2 LDO的性能指标第40-42页
        3.2.3 带隙基准电路及其原理第42-46页
        3.2.4 误差放大器第46-47页
        3.2.5 调整管第47-48页
        3.2.6 设计分析第48页
    3.3 带隙基准电路的设计和仿真第48-58页
        3.3.1 运算放大器的设计第48-50页
        3.3.2 偏置电路的设计第50-51页
        3.3.3 带隙基准启动电路的设计第51-52页
        3.3.4 带隙基准电路的前仿第52-55页
        3.3.5 带隙基准电路的版图设计第55-56页
        3.3.6 带隙基准电路的后仿第56-58页
    3.4 LDO电路的设计和仿真第58-70页
        3.4.1 增益增强结构的误差放大器第58-60页
        3.4.2 全差分运放的共模反馈第60-62页
        3.4.3 稳定性补偿第62-63页
        3.4.4 LDO电路的前仿第63-67页
        3.4.5 LDO电路的版图设计第67页
        3.4.6 LDO电路的后仿第67-70页
    3.5 本章小结第70-72页
4 阻变随机存储器中的读出电路第72-82页
    4.1 传统的读出电路第72-74页
        4.1.1 电流型读出电路第72-73页
        4.1.2 电压型读出电路第73-74页
    4.2 阻变随机存储器读出电路的探究第74-76页
        4.2.1 预充电提高读取速度第74-75页
        4.2.2 读出电路的实现方法第75-76页
    4.3 阻变随机存储器读出电路的版图设计第76页
    4.4 阻变随机存储器读出电路的仿真第76-79页
    4.5 本章小结第79-82页
5 阻变随机存储器中的器件模型第82-90页
    5.1 器件模型概述第82-83页
    5.2 建模的过程第83-86页
        5.2.1 粒子运动的描述第83-84页
        5.2.2 模型的描述第84-86页
    5.3 器件模型的仿真第86-89页
    5.4 本章小结第89-90页
6 总结与展望第90-92页
    6.1 全文总结第90-91页
    6.2 展望第91-92页
参考文献第92-96页
作者简历及攻读硕士学位期间取得的研究成果第96-100页
学位论文数据集第100页

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