| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-11页 |
| ·课题研究背景、目的及意义 | 第9页 |
| ·目前国内外研究现状及发展趋势 | 第9-10页 |
| ·本论文研究的主要内容 | 第10-11页 |
| 第二章 雷达电路板故障诊断系统 | 第11-22页 |
| ·自动测试系统概述 | 第11-12页 |
| ·自动测试系统硬件结构 | 第12-15页 |
| ·自动测试系统软件结构 | 第15-19页 |
| ·软件系统的资源建模和 TPS 开发编辑环境 | 第16页 |
| ·可视化测试策略开发 | 第16-17页 |
| ·PCB 故障定位技术 | 第17-19页 |
| ·本系统软件运行过程 | 第19-21页 |
| ·雷达电路板故障诊断整体实现方案 | 第21-22页 |
| 第三章 雷达数字电路板故障诊断实现方法 | 第22-37页 |
| ·故障诊断的基本概念 | 第22-23页 |
| ·故障类型 | 第22-23页 |
| ·故障诊断方式 | 第23页 |
| ·故障诊断方法 | 第23-27页 |
| ·功能测试法 | 第23-24页 |
| ·替代法 | 第24-26页 |
| ·由大到小法 | 第26-27页 |
| ·穷举法 | 第27页 |
| ·MULTISIM 8 仿真技术在数字电路板故障诊断中的应用 | 第27-37页 |
| ·Multisim 8 工具介绍 | 第27-28页 |
| ·Multisim8 的仿真分析在电路板故障诊断中的实例应用 | 第28-37页 |
| 第四章 雷达时序数字电路板主要模块故障诊断及调试验证 | 第37-82页 |
| ·只读存储器ROM 的分类 | 第37页 |
| ·只读存储器ROM 测试方案的选取 | 第37-39页 |
| ·只读存储器ROM 测试方案的具体实现 | 第39-48页 |
| ·地址信号来自电路板内部的 ROM 器件的测试实现 | 第39-44页 |
| ·地址信号来自电路板内部和外部的 ROM 器件的测试实现 | 第44-47页 |
| ·地址信号来自电路板计数器的 ROM 器件的测试实现 | 第47-48页 |
| ·雷达时序数字电路板工作原理分析 | 第48-49页 |
| ·雷达时序数字电路板的故障诊断整体实现方案 | 第49-51页 |
| ·雷达时序数字电路板TPS 开发 | 第51-60页 |
| ·测试接口适配器(ITA)的设计 | 第51-54页 |
| ·测试资源配置 | 第54-56页 |
| ·TPS 程序开发平台运用 | 第56-60页 |
| ·主要电路模块TPS 程序开发 | 第60-72页 |
| ·晶振电路测试 | 第60-61页 |
| ·小时序电路及D402、D201 测试 | 第61-68页 |
| ·大时序电路测试 | 第68-72页 |
| ·自检码电路测试 | 第72页 |
| ·验证及结论 | 第72-82页 |
| ·晶振电路测试 | 第74-75页 |
| ·小时序电路及D402、D201 测试 | 第75-78页 |
| ·自检码形成电路测试 | 第78-79页 |
| ·大时序电路测试 | 第79-81页 |
| ·被拔掉器件D401 的测试 | 第81-82页 |
| 第五章 总结 | 第82-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-86页 |
| 附录 | 第86-88页 |
| 攻读硕士期间的研究成果 | 第88-89页 |
