目录 | 第4-7页 |
摘要 | 第7-8页 |
ABSTRACT | 第8页 |
第一章 绪论 | 第9-15页 |
1.1 本课题研究的背景 | 第9页 |
1.2 线束测量项目 | 第9-10页 |
1.3 线束连通性测量方法 | 第10页 |
1.4 线束接头接触电阻测量方法 | 第10-11页 |
1.5 应用面向对象软件工程学开发线束测试系统 | 第11-14页 |
1.5.1 面向对象方法学的要点 | 第11-12页 |
1.5.2 面向对象方法学的主要优点 | 第12-13页 |
1.5.3 应用面向对象软件工程学开发线束测试系统 | 第13-14页 |
1.6 本课题研究的主要内容和实现方法 | 第14-15页 |
第二章 CCTS系统简介 | 第15-19页 |
2.1 CCTS系统名称: | 第15页 |
2.2 CCTS系统构成: | 第15-18页 |
2.2.1 数据源 | 第16页 |
2.2.2 MFC应用程序向导 | 第16-17页 |
2.2.3 使用MSComm控件 | 第17-18页 |
2.3 本章小结 | 第18-19页 |
第三章、CCTS检测模型与分析算法 | 第19-37页 |
3.1 线束检测理论 | 第19-21页 |
3.1.1 线束检测模型 | 第19-20页 |
3.1.2 处理方案 | 第20页 |
3.1.3 故障矩阵 | 第20-21页 |
3.2 基于知识工程的数据库及数据结构定义 | 第21-28页 |
3.2.1 数据库的结构定义 | 第21-22页 |
3.2.2数据源的定义 | 第22-24页 |
3.2.3 简化的故障矩阵 | 第24页 |
3.2.4 故障序列的数据结构 | 第24-28页 |
3.3 故障分析算法 | 第28-36页 |
3.3.1 数量分析流程 | 第28-30页 |
3.3.2 数量分析程序代码 | 第30-32页 |
3.3.3 遍历线束问题流程 | 第32-33页 |
3.3.4 遍历线束问题代码 | 第33-35页 |
3.3.5 节点定义查询代码 | 第35-36页 |
3.4 本章小结 | 第36-37页 |
第四章 CCTS测试终端组成与分析算法 | 第37-51页 |
4.1 8051引脚简介 | 第37-39页 |
4.2 CCTS测试终端组成 | 第39-40页 |
4.3 测试终端的主要流程 | 第40-43页 |
4.3.1 测试等待程序流程 | 第40-41页 |
4.3.2 测试主程序流程 | 第41页 |
4.3.3 检测接入导线数程序流程 | 第41页 |
4.3.4 检测第ⅰ根导线程序流程 | 第41-43页 |
4.4 CCTS测试终端代码 | 第43-50页 |
4.4.1 CctsDiag.c | 第43-44页 |
4.4.2 DiagRoute(); | 第44页 |
4.4.3 DiagNum(); | 第44-45页 |
4.4.4 DiagWire(); | 第45-46页 |
4.4.5 look(int t) | 第46页 |
4.4.6 report(int WireNo) | 第46-48页 |
4.4.7 count(unsingned int t) | 第48页 |
4.4.8 enableDataBus() | 第48-49页 |
4.4.9 init_rs232(); | 第49页 |
4.4.10 tx_char(unsigned char c) | 第49页 |
4.4.11 rx_char() | 第49-50页 |
4.4.12 Main() | 第50页 |
4.5 本章小结 | 第50-51页 |
第五章 CCTS系统内部通信 | 第51-57页 |
5.1 通信协议 | 第51页 |
5.2 PC通信程序框架 | 第51-56页 |
5.2.1 初始化并打开串口 | 第52-53页 |
5.2.2 通知8051开始测试 | 第53-54页 |
5.2.3 响应CommEvent事件 | 第54-56页 |
5.3 本章小结 | 第56-57页 |
第六章 CCTS用户终端 | 第57-65页 |
6.1 功能描述 | 第57页 |
6.2 用户界面 | 第57-62页 |
6.2.1 线束选择界面 | 第57-60页 |
6.2.2 测试定义显示窗口 | 第60页 |
6.2.3 测试报告显示窗口 | 第60-62页 |
6.3 结果显示程序 | 第62-64页 |
6.3.1 初始提示文字: | 第62页 |
6.3.2 清空报告内容 | 第62页 |
6.3.3 显示报告窗口 | 第62-63页 |
6.3.4 显示线束定义窗口 | 第63-64页 |
6.3.5 更新报告内容 | 第64页 |
6.4 本章小结 | 第64-65页 |
结论 | 第65-66页 |
参考文献 | 第66-68页 |
致谢 | 第68页 |