某型阵列天线平面度分析与检测
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 研究工作的背景与意义 | 第10-12页 |
| 1.1.1 概述 | 第10页 |
| 1.1.2 相控阵雷达原理与发展趋势 | 第10-11页 |
| 1.1.3 阵列天线平面度对天线性能的影响分析 | 第11-12页 |
| 1.2 阵列天线平面度分析研究历史与现状 | 第12-13页 |
| 1.3 阵列天线平面度检测研究历史与现状 | 第13页 |
| 1.4 本文的主要研究内容与实际应用价值 | 第13-15页 |
| 1.4.1 某型天线结构指标要求 | 第13页 |
| 1.4.2 本文主要研究内容 | 第13-15页 |
| 1.4.3 本论文实际应用方面的意义和价值 | 第15页 |
| 1.5 本论文的结构安排 | 第15-17页 |
| 第二章 天线平面度分析基础 | 第17-25页 |
| 2.1 有限元分析方法概述 | 第17-18页 |
| 2.2 有限元分析步骤 | 第18-24页 |
| 2.2.1 建立几何模型 | 第20-22页 |
| 2.2.2 选择分析程序 | 第22页 |
| 2.2.3 建立分析模型 | 第22-23页 |
| 2.2.4 递交分析 | 第23页 |
| 2.2.5 评价分析结果 | 第23-24页 |
| 2.3 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 天线平面度有限元分析 | 第25-51页 |
| 3.1 阵列天线结构组成 | 第25页 |
| 3.2 天线结构设计特点 | 第25-26页 |
| 3.3 天线装配影响因素 | 第26页 |
| 3.4 天线结构设计校核 | 第26-38页 |
| 3.4.1 天线载荷要求 | 第26-31页 |
| 3.4.2 载荷计算与分析 | 第31-38页 |
| 3.5 天线平面度分析 | 第38-45页 |
| 3.5.1 装配过程工况分析 | 第38-39页 |
| 3.5.2 平面度有限元分析 | 第39页 |
| 3.5.3 有限元分析及结果比较 | 第39-45页 |
| 3.6 分析结论 | 第45-46页 |
| 3.7 装配方案设计 | 第46-49页 |
| 3.7.1 天线装配流程 | 第46-47页 |
| 3.7.2 中块组装 | 第47页 |
| 3.7.3 边块组装 | 第47-48页 |
| 3.7.4 边块中块组装 | 第48-49页 |
| 3.8 本章小结 | 第49-51页 |
| 第四章 阵列天线平面度检测基础 | 第51-56页 |
| 4.1 平面度检测概述 | 第51页 |
| 4.2 天线平面度检测方法简介 | 第51-53页 |
| 4.2.1 光学经纬仪高度尺法 | 第51-52页 |
| 4.2.2 双电子经纬仪法 | 第52页 |
| 4.2.3 水准仪高度尺法 | 第52页 |
| 4.2.4 全站仪测量法 | 第52-53页 |
| 4.2.5 激光跟踪仪测量法 | 第53页 |
| 4.3 本章小结 | 第53-56页 |
| 第五章 平面度测量系统设计与检测 | 第56-72页 |
| 5.1 全站仪平面度测量原理 | 第56-58页 |
| 5.2 测量系统简介 | 第58页 |
| 5.3 测量系统的组成 | 第58-59页 |
| 5.4 测量的基本条件及要求 | 第59页 |
| 5.5 平面度测量方案设计 | 第59-69页 |
| 5.5.1 确定测量仪器的位置 | 第60页 |
| 5.5.2 测量系统连接及精度校准 | 第60页 |
| 5.5.3 测量系统建立 | 第60-63页 |
| 5.5.4 测量坐标系建立 | 第63页 |
| 5.5.5 空间点的测量 | 第63-64页 |
| 5.5.6 测量数据的处理 | 第64-69页 |
| 5.6 测量精度分析 | 第69页 |
| 5.7 平面度检测结论 | 第69-70页 |
| 5.8 本章小结 | 第70-72页 |
| 第六章 全文总结与展望 | 第72-74页 |
| 6.1 全文总结 | 第72-73页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第79-80页 |
