摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-10页 |
第一章 绪论 | 第10-14页 |
·课题研究背景和意义 | 第10-11页 |
·压力连接质量监控研究现状 | 第11-13页 |
·压力连接质量理论研究 | 第11页 |
·压力连接质量监控系统开发 | 第11-12页 |
·压力连接质量监控方法研究 | 第12-13页 |
·研究主要内容及论文结构 | 第13页 |
·本章小结 | 第13-14页 |
第二章 压力连接监控方法设计 | 第14-27页 |
·压力连接过程监控方法理论依据 | 第14-18页 |
·压力连接技术体系 | 第14-15页 |
·压力连接成型过程分析 | 第15-16页 |
·压力连接质量评价指标 | 第16-18页 |
·压力连接质量影响因素 | 第18页 |
·压力连接过程位移与载荷曲线分析 | 第18-25页 |
·快进行程分析 | 第19-20页 |
·一次加压阶段分析 | 第20-22页 |
·二次加压阶段分析 | 第22-24页 |
·其他常见质量问题曲线分析 | 第24-25页 |
·压力连接质量问题判断方法 | 第25-26页 |
·本章小结 | 第26-27页 |
第三章 监控系统结构方案设计 | 第27-30页 |
·系统需求 | 第27页 |
·系统结构设计 | 第27-29页 |
·系统硬件设计 | 第27-28页 |
·系统软件设计 | 第28-29页 |
·本章小结 | 第29-30页 |
第四章 监控系统硬件设计 | 第30-39页 |
·基于ARM9 芯片的开发平台介绍 | 第30-32页 |
·ARM 体系介绍 | 第30-31页 |
·MINI2440 开发板电路介绍 | 第31-32页 |
·数据采集部分电路设计 | 第32-38页 |
·电源电路 | 第32-33页 |
·滤波电路 | 第33-35页 |
·模数转换电路 | 第35-38页 |
·PCB 抗干扰的设计 | 第38页 |
·本章小结 | 第38-39页 |
第五章 监控系统底层软件设计 | 第39-55页 |
·嵌入式LINUX 体系结构 | 第39页 |
·嵌入式操作系统的移植 | 第39-44页 |
·交叉编译环境的建立 | 第39-40页 |
·引导加载程序的移植 | 第40-41页 |
·Linux 内核的移植与文件系统的构建 | 第41-44页 |
·LINUX 设备驱动设计 | 第44-54页 |
·Linux 驱动模型 | 第44-46页 |
·SPI 简介 | 第46-48页 |
·Linux 下A/D 驱动设计 | 第48-54页 |
·本章小结 | 第54-55页 |
第六章 监控系统应用程序设计 | 第55-75页 |
·监控系统GUI 开发环境构建 | 第55-60页 |
·开发工具Qt、Qtopia Core 以及qwt 的介绍 | 第55-56页 |
·信号与槽机制 | 第56-57页 |
·Qtopia Core 以及qwt 在Linux 下的移植 | 第57-60页 |
·压力连接质量监控系统GUI 程序设计 | 第60-68页 |
·创建系统主窗口 | 第60-63页 |
·创建监控模块 | 第63-66页 |
·创建参数设置模块 | 第66-67页 |
·创建质量评估模块 | 第67-68页 |
·压力连接质量评估程序 | 第68-74页 |
·质量优劣判别方法程序设计 | 第68-69页 |
·关键点判别方法程序设计 | 第69-72页 |
·数据滤波程序设计 | 第72-74页 |
·本章小结 | 第74-75页 |
第七章 系统功能测试 | 第75-81页 |
·滤波效果测试 | 第75-76页 |
·质量问题判断测试 | 第76-81页 |
·模具径向尺寸发生改变 | 第77页 |
·模具径向位置发生改变 | 第77-78页 |
·模具轴向尺寸发生改变 | 第78-79页 |
·板件材料发生改变 | 第79-80页 |
·板件厚度发生改变 | 第80-81页 |
总结与展望 | 第81-83页 |
总结 | 第81页 |
展望 | 第81-83页 |
参考文献 | 第83-87页 |
攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第87-88页 |
致谢 | 第88-89页 |
附件 | 第89页 |