| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 课题背景 | 第10-11页 |
| 1.2 静电除尘基本原理 | 第11页 |
| 1.3 影响电除尘器性能的主要因素 | 第11-12页 |
| 1.3.1 闪络特性 | 第11-12页 |
| 1.3.2 输出电压的控制 | 第12页 |
| 1.4 静电除尘电源分类 | 第12-14页 |
| 1.4.1 工频静电除尘电源 | 第12-13页 |
| 1.4.2 中频静电除尘电源 | 第13页 |
| 1.4.3 高频静电除尘电源 | 第13-14页 |
| 1.5 主要研究内容 | 第14-16页 |
| 第二章 主电路功率器件的选型 | 第16-24页 |
| 2.1 主电路拓扑 | 第16页 |
| 2.2 整流电路及预充电电路 | 第16-21页 |
| 2.2.1 传统的预充电回路 | 第16-18页 |
| 2.2.2 改进的预充电回路 | 第18-19页 |
| 2.2.3 整流电路器件选型 | 第19-20页 |
| 2.2.4 母线电容的选型 | 第20-21页 |
| 2.2.4.1 确定使用母线电容的工作电压 | 第20页 |
| 2.2.4.2 确定使用母线电容的容量 | 第20-21页 |
| 2.3 单相全桥逆变电路 | 第21-23页 |
| 2.3.1 IGBT选型 | 第21-22页 |
| 2.3.1.1 额定电压的确定 | 第21页 |
| 2.3.1.2 额定电流的确定 | 第21-22页 |
| 2.3.2 滤波器的设计 | 第22-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 电源控制系统硬件设计 | 第24-40页 |
| 3.1 中频静电除尘电源样机 | 第24-25页 |
| 3.2 控制系统电源结构 | 第25-26页 |
| 3.3 母线电压调理电路 | 第26页 |
| 3.4 一次电压调理电路 | 第26-28页 |
| 3.4.1 绝对值转换电路原理 | 第27页 |
| 3.4.2 绝对值转换电路仿真波形 | 第27-28页 |
| 3.4.3 绝对值转换电路测试波形 | 第28页 |
| 3.5 一次电流调理电路 | 第28-29页 |
| 3.6 二次电压电流调理电路 | 第29-31页 |
| 3.6.1 线性光耦典型电路 | 第29-30页 |
| 3.6.2 线性光耦隔离电路仿真波形 | 第30-31页 |
| 3.6.3 线性光耦隔离电路测试波形 | 第31页 |
| 3.7 开关量输入输出电路 | 第31-33页 |
| 3.7.1 开关量输入电路 | 第32页 |
| 3.7.2 开关量输出电路 | 第32-33页 |
| 3.8 DSP最小系统 | 第33-38页 |
| 3.8.1 DSP系列 | 第33-34页 |
| 3.8.1.1 Piccolo系列 | 第33页 |
| 3.8.1.2 F24x系列 | 第33页 |
| 3.8.1.3 Fixed-point F280x/281x | 第33页 |
| 3.8.1.4 Delfino系列 | 第33-34页 |
| 3.8.1.5 Concerto系列 | 第34页 |
| 3.8.2 DSP最小系统结构框图 | 第34页 |
| 3.8.3 DSP电源电路 | 第34-35页 |
| 3.8.4 DSP时钟 | 第35-36页 |
| 3.8.5 DSP片外参考电压 | 第36页 |
| 3.8.6 EEPROM电路 | 第36页 |
| 3.8.7 DSP电压监测电路 | 第36-38页 |
| 3.8.8 JTAG电路 | 第38页 |
| 3.9 IGBT驱动电路 | 第38-39页 |
| 3.10 本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 保护电路的设计 | 第40-56页 |
| 4.1 IGBT保护电路 | 第40-47页 |
| 4.1.1 IGBT损坏的原因 | 第40页 |
| 4.1.2 防止IGBT损坏的方法 | 第40页 |
| 4.1.3 IGBT短路保护和过流保护 | 第40-41页 |
| 4.1.4 基于FPGA的过流保护电路 | 第41-47页 |
| 4.1.4.1 FPGA系列 | 第41-42页 |
| 4.1.4.2 过流信号产生电路原理 | 第42-43页 |
| 4.1.4.3 过流信号产生电路仿真波形 | 第43页 |
| 4.1.4.4 过流信号产生电路测试波形 | 第43-44页 |
| 4.1.4.5 过流保护中的干扰和消抖电路 | 第44-45页 |
| 4.1.4.6 脉冲展宽电路 | 第45-46页 |
| 4.1.4.7 过流保护策略 | 第46-47页 |
| 4.2 基于MSP430的测温保护控制系统设计 | 第47-54页 |
| 4.2.1 恒压分压式三线制测量原理 | 第47-48页 |
| 4.2.2 接口电路的设计 | 第48-49页 |
| 4.2.3 调理电路的设计 | 第49-51页 |
| 4.2.4 ADC芯片CS5550 | 第51-53页 |
| 4.2.4.1 CS5550简介 | 第51页 |
| 4.2.4.2 MSP430单片机与CS5550的连接 | 第51页 |
| 4.2.4.3 CS5550芯片的配置 | 第51-52页 |
| 4.2.4.4 CS5550芯片的命令格式 | 第52页 |
| 4.2.4.5 CS5550芯片写寄存器值操作 | 第52页 |
| 4.2.4.6 CS5550芯片读寄存器值操作 | 第52-53页 |
| 4.2.5 测温程序流程 | 第53页 |
| 4.2.6 测温结果计算 | 第53-54页 |
| 4.3 本章小结 | 第54-56页 |
| 第五章 中频电源控制程序设计 | 第56-72页 |
| 5.1 DSP控制程序结构及AD采样程序 | 第56-60页 |
| 5.1.1 DSP控制程序结构 | 第56-57页 |
| 5.1.2 采样程序 | 第57-58页 |
| 5.1.3 中断嵌套的实现 | 第58-60页 |
| 5.2 SPWM控制程序 | 第60-69页 |
| 5.2.1 SPWM控制原理 | 第60-66页 |
| 5.2.1.1 双极性SPWM调制原理及DSP实现方式 | 第60-62页 |
| 5.2.1.2 单极性倍频SPWM调制原理及DSP实现方式 | 第62-63页 |
| 5.2.1.3 单极性倍频SPWM调制的不对称规则采样 | 第63-66页 |
| 5.2.2 SPWM仿真波形 | 第66-67页 |
| 5.2.2.1 双极性SPWM调制仿真波形 | 第66-67页 |
| 5.2.2.2 单极性倍频SPWM调制仿真波形 | 第67页 |
| 5.2.3 SPWM测试波形 | 第67-69页 |
| 5.2.3.1 双极性SPWM调制测试波形 | 第67-68页 |
| 5.2.3.2 单极性倍频SPWM调制测试波形 | 第68-69页 |
| 5.3 中频静电除尘电源闪络控制程序 | 第69-71页 |
| 5.3.1 闪络保护电路 | 第70页 |
| 5.3.2 闪络控制程序 | 第70-71页 |
| 5.4 本章小结 | 第71-72页 |
| 第六章 Modbus-RTU通信协议在控制芯片中的移植 | 第72-84页 |
| 6.1 Modus通信协议 | 第72-75页 |
| 6.1.1 Modbus通信协议简介 | 第72页 |
| 6.1.2 Modbus报文组成 | 第72-73页 |
| 6.1.3 两种串行传输模式 | 第73-74页 |
| 6.1.3.1 RTU传输模式 | 第73-74页 |
| 6.1.3.2 ASCⅡ传输模式 | 第74页 |
| 6.1.4 03和06功能码描述 | 第74-75页 |
| 6.1.4.1 03功能码：读保持寄存器 | 第74页 |
| 6.1.4.2 06功能码：写单个保持寄存器 | 第74-75页 |
| 6.2 Modbus协议物理层实现 | 第75-76页 |
| 6.3 Modbus通信程序结构 | 第76-77页 |
| 6.4 Modbus通信程序流程 | 第77-80页 |
| 6.4.1 主循环程序 | 第78-79页 |
| 6.4.2 定时器中断程序 | 第79页 |
| 6.4.3 串口接收中断程序 | 第79-80页 |
| 6.4.4 串口发送中断程序 | 第80页 |
| 6.5 Modbus通信测试波形 | 第80-83页 |
| 6.5.1 03功能码测试波形 | 第81-82页 |
| 6.5.2 06功能码测试波形 | 第82-83页 |
| 6.6 本章小结 | 第83-84页 |
| 第七章 总结与展望 | 第84-86页 |
| 7.1 本文工作的总结 | 第84页 |
| 7.2 今后工作的展望 | 第84-86页 |
| 致谢 | 第86-88页 |
| 参考文献 | 第88-94页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文及成果 | 第94页 |
