影响电缆绝缘性能的因素研究及其对策
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
1 绪论 | 第9-18页 |
1.1 研究的背景和意义 | 第9-10页 |
1.2 国内电缆发展历程及未来走向 | 第10-11页 |
1.2.1 国内电缆发展历程 | 第10页 |
1.2.2 国内电缆发展未来走向 | 第10-11页 |
1.3 电力电缆的分类及特点 | 第11-14页 |
1.3.1 按电缆的绝缘材料分类 | 第11-13页 |
1.3.2 按电缆的结构分类 | 第13页 |
1.3.3 按电压等级分类 | 第13页 |
1.3.4 按特殊需求分类 | 第13-14页 |
1.4 电力电缆供电的优势与不足 | 第14-15页 |
1.5 本文研究的内容和创新点 | 第15页 |
1.6 国内外研究现状 | 第15-17页 |
1.6.1 影响绝缘电阻测量值的因素 | 第15-16页 |
1.6.2 对绝缘电阻测量方式的研究 | 第16-17页 |
1.7 研究的思路和研究的方法 | 第17-18页 |
2 电缆绝缘概述及绝缘击穿老化机理 | 第18-28页 |
2.1 电力电缆结构与性能 | 第18-21页 |
2.1.1 电缆导体材料的结构与性能 | 第18-19页 |
2.1.2 电缆屏蔽层的结构及性能 | 第19页 |
2.1.3 电缆绝缘层的结构及性能 | 第19-20页 |
2.1.4 电缆护层的结构及作用 | 第20-21页 |
2.2 电力电缆绝缘概述 | 第21页 |
2.3 电力电缆绝缘击穿原理 | 第21-23页 |
2.3.1 固体绝缘击穿特性的分类 | 第21-23页 |
2.3.2 油纸绝缘的击穿特性 | 第23页 |
2.4 交联聚乙烯电力电缆绝缘老化机理 | 第23-26页 |
2.4.1 影响交联聚乙烯电力电缆绝缘性能的因素 | 第23-24页 |
2.4.2 交联聚乙烯电力电缆绝缘老化机理及形态 | 第24-25页 |
2.4.3 交联聚乙烯电缆绝缘老化原因及形态 | 第25-26页 |
2.5 绝缘电阻测量基本原理 | 第26-27页 |
2.6 进行绝缘电阻测量的必要性 | 第27页 |
2.7 本章小结 | 第27-28页 |
3 影响电缆绝缘电阻大小的因素 | 第28-33页 |
3.1 测量技术方面 | 第28-30页 |
3.1.1 极化电荷的原因 | 第28页 |
3.1.2 温度的影响 | 第28-29页 |
3.1.3 湿度的影响 | 第29页 |
3.1.4 测量时间的影响 | 第29页 |
3.1.5 充电时间的影响 | 第29-30页 |
3.2 材料方面的因素 | 第30页 |
3.3 结构偏离造成的原因 | 第30-31页 |
3.4 表面污垢的影响 | 第31-32页 |
3.5 本章小结 | 第32-33页 |
4 泄漏电流测试系统的设计 | 第33-41页 |
4.1 测试系统概述 | 第33-34页 |
4.2 系统硬件部分设计 | 第34-37页 |
4.2.1 直流高压发生器的设计 | 第34-35页 |
4.2.2 数据采集模块的设计 | 第35-37页 |
4.3 系统软件部分设计 | 第37-39页 |
4.3.1 PLC模块程序设计 | 第37页 |
4.3.2 上位机人机交互界面的设计 | 第37-38页 |
4.3.3 数据库的设计 | 第38页 |
4.3.4 PLC与上位机的通讯 | 第38-39页 |
4.4 抗干扰部分设计 | 第39-40页 |
4.4.1 硬件抗干扰措施 | 第39页 |
4.4.2 软件抗干扰措施 | 第39-40页 |
4.5 本章小结 | 第40-41页 |
5 不同测试环境下的绝缘性能和原因分析 | 第41-54页 |
5.1 试验前准备 | 第41-42页 |
5.2 不同环境温度对电缆绝缘性能的影响 | 第42-47页 |
5.3 不同浸泡时间对电缆绝缘性能的影响 | 第47-52页 |
5.4 不同测试时间对电缆绝缘性能的影响 | 第52-53页 |
5.5 剩余电荷对绝缘性能的影响 | 第53-54页 |
6 解决的对策方案 | 第54-58页 |
6.1 测量技术方面影响 | 第54页 |
6.1.1 要正确选择绝缘兆欧表 | 第54页 |
6.1.2 正确使用绝缘电阻表 | 第54页 |
6.2 温度方面影响 | 第54-55页 |
6.3 湿度方面影响 | 第55-56页 |
6.3.1 干燥处理 | 第55页 |
6.3.2 防范措施 | 第55-56页 |
6.4 测试时间方面影响 | 第56页 |
6.5 污垢方面影响 | 第56-58页 |
结论 | 第58-59页 |
参考文献 | 第59-61页 |
攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第61-62页 |
致谢 | 第62-63页 |