| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 第1章 前言 | 第12-20页 |
| 1.1 锂铝合金的特点 | 第12页 |
| 1.2 铝锂合金的发展 | 第12-13页 |
| 1.3 铝锂合金的应用 | 第13-14页 |
| 1.4 研究意义 | 第14页 |
| 1.5 锂的分析进展 | 第14-16页 |
| 1.5.1 重量法 | 第14页 |
| 1.5.2 紫外及可见分光光度法 | 第14-15页 |
| 1.5.3 离子色谱法和毛细管电泳法 | 第15页 |
| 1.5.4 原子吸收分光光度法 | 第15-16页 |
| 1.5.5 等离子体光谱法 | 第16页 |
| 1.5.6 电化学方法 | 第16页 |
| 1.6 银的分析进展 | 第16-18页 |
| 1.6.1 重量法 | 第16页 |
| 1.6.2 吸光光度法 | 第16-17页 |
| 1.6.3 催化光度法 | 第17页 |
| 1.6.4 电化学分析法 | 第17-18页 |
| 1.6.5 原子吸收分光光度法 | 第18页 |
| 1.6.6 ICP-OES | 第18页 |
| 1.7 课题的主要任务 | 第18-19页 |
| 1.8 研究的创新点 | 第19-20页 |
| 第2章 等离子体发射光谱法和火焰原子吸收光度法检测铝锂合金中的银和锂 | 第20-32页 |
| 2.1 实验仪器和设备 | 第20页 |
| 2.2 实验主要试剂及配制方法 | 第20-21页 |
| 2.3 ICP-OES法同时测定锂和银 | 第21-22页 |
| 2.3.1 仪器工作条件 | 第21-22页 |
| 2.3.2 标准曲线的配制 | 第22页 |
| 2.3.3 样品的处理 | 第22页 |
| 2.4 FAAS法分别测定银和锂 | 第22-23页 |
| 2.4.1 仪器工作条件 | 第22页 |
| 2.4.2 标准曲线的配制 | 第22-23页 |
| 2.4.3 样品的处理 | 第23页 |
| 2.5 最佳样品消解方法 | 第23-25页 |
| 2.6 共存元素的干扰及样品的前处理技术 | 第25-27页 |
| 2.6.1 ICP-OES法测定银和锂的干扰 | 第25-26页 |
| 2.6.2 FAAS测银的干扰 | 第26-27页 |
| 2.6.3 FAAS测锂的干扰 | 第27页 |
| 2.7 FAAS测银的前处理方法研究 | 第27-28页 |
| 2.8 FAAS测银的前处理方法研究 | 第28-29页 |
| 2.9 样品分析 | 第29-31页 |
| 2.9.1 ICP-OES法 | 第29-30页 |
| 2.9.2 FAAS法 | 第30-31页 |
| 2.10 小结 | 第31-32页 |
| 第3章 分光光度法检测铝锂合金中的银 | 第32-45页 |
| 3.1 实验仪器和设备 | 第32页 |
| 3.2 主要试剂及配制方法 | 第32-33页 |
| 3.3 实验方法 | 第33-34页 |
| 3.3.1 标准曲线及试样配制 | 第33页 |
| 3.3.2 铝锂合金样品的消解 | 第33页 |
| 3.3.3 共存元素干扰的消除方法 | 第33-34页 |
| 3.4 最佳测试条件 | 第34-38页 |
| 3.4.1 静置时间的确定 | 第34-35页 |
| 3.4.2 最佳波长的确定 | 第35页 |
| 3.4.3 最佳pH的确定 | 第35-36页 |
| 3.4.4 鞣酸用量的确定 | 第36-37页 |
| 3.4.5 表面活性剂的增敏实验 | 第37-38页 |
| 3.5 标准曲线和线性范围 | 第38-40页 |
| 3.6 检出限的确定 | 第40页 |
| 3.7 干扰物质影响 | 第40-41页 |
| 3.8 样品的前处理技术研究 | 第41-42页 |
| 3.9 样品的测定 | 第42-44页 |
| 3.10 小结 | 第44-45页 |
| 第4章 极谱法检测锂的方法研究 | 第45-74页 |
| 4.1 实验仪器和设备 | 第45页 |
| 4.2 主要试剂及配制方法 | 第45-46页 |
| 4.3 实验方法 | 第46页 |
| 4.4 最佳底液条件 | 第46-53页 |
| 4.4.1 NaOH用量选择 | 第46-47页 |
| 4.4.2 pH选择 | 第47-49页 |
| 4.4.3 缓冲体系的选择 | 第49页 |
| 4.4.4 缓冲溶液用量选择 | 第49-50页 |
| 4.4.5 钙羧酸指示剂用量选择 | 第50-51页 |
| 4.4.6 H_2O_2用量选择 | 第51-52页 |
| 4.4.7 表面活性剂 | 第52-53页 |
| 4.5 最佳仪器条件选择 | 第53-57页 |
| 4.5.1 扫描速率 | 第53-54页 |
| 4.5.2 扫描次数 | 第54-55页 |
| 4.5.3 静止时间 | 第55-56页 |
| 4.5.4 起始电位 | 第56-57页 |
| 4.6 温度对峰电流的影响 | 第57-58页 |
| 4.7 标准曲线与线性范围 | 第58-60页 |
| 4.8 检出限 | 第60页 |
| 4.9 精密度实验 | 第60-61页 |
| 4.10 稳定性实验 | 第61-62页 |
| 4.11 共存离子的影响 | 第62-63页 |
| 4.12 样品的测定 | 第63-67页 |
| 4.12.1 样品消解 | 第63页 |
| 4.12.2 样品中共存元素干扰消除方法试验 | 第63-67页 |
| 4.13 极谱波性质及机理研究 | 第67-73页 |
| 4.13.1 循环伏安图 | 第67-68页 |
| 4.13.2 极谱图和可见光谱图 | 第68-70页 |
| 4.13.3 扫速与峰电流和峰电位的关系 | 第70-72页 |
| 4.13.4 pH对峰电位的影响 | 第72-73页 |
| 4.14小结 | 第73-74页 |
| 结论 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-82页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第82页 |