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基于FPGA的DDR3内存控制器的研究与设计

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
第1章 引言第10-15页
    1.1 论文选题背景及意义第10-13页
        1.1.1 “存储墙”问题日益突出第10-12页
        1.1.2 内存控制器研究现状第12-13页
    1.2 研究意义第13-14页
    1.3 论文结构第14-15页
第2章 DDR3 SDRAM内存介绍第15-30页
    2.1 DDR3 SDRAM技术特征第15-18页
        2.1.1 DDR SDRAM存储器的发展第15-17页
        2.1.2 DDR3 SDRAM新特性第17-18页
    2.2 DDR3的内部结构及工作原理第18-21页
        2.2.1 DDR3 SDRAM原理第19-20页
        2.2.2 DDR3 SDRAM内部结构第20-21页
    2.3 DDR3命令分析第21-22页
    2.4 DDR3的工作过程第22-30页
        2.4.1 上电和初始化过程第23-24页
        2.4.2 DDR3的状态转换第24-25页
        2.4.3 DDR3 SDRAM读写时序第25-30页
第3章 DDR3控制器的设计第30-48页
    3.1 DDR3控制器总体结构第30-33页
        3.1.1 DDR3控制器设计功能分析第30-32页
        3.1.2 DDR3 SDRAM控制器整体架构第32-33页
    3.2 DDR3内存控制器主状态机设计第33-34页
    3.3 传输层的RTL设计第34-42页
        3.3.1 用户接口模块设计第35-36页
        3.3.2 初始化模块设计第36-38页
        3.3.3 指令调度模块第38-40页
        3.3.4 ECC模块设计第40-41页
        3.3.5 命令产生模块设计第41页
        3.3.6 时序控制模块设计第41-42页
    3.4 ALTMEMPHY数字接口第42-48页
        3.4.1 ALTMEMPHY功能介绍第42-45页
        3.4.2 ALTMEMPHY数字接口介绍第45页
        3.4.3 ALTMEMPHY设计第45-48页
第4章 DDR3内存控制器IP核的功能仿真第48-57页
    4.1 验证平台设计第48-50页
        4.1.1 Test Bench介绍第48-49页
        4.1.2 平台搭建第49-50页
    4.2 RTL级仿真测试结果及分析第50-55页
        4.2.1 仿真信号源第50-51页
        4.2.2 初始化模块仿真测试第51页
        4.2.3 用户接口模块仿真测试第51-52页
        4.2.4 命令产生模块仿真测试第52页
        4.2.5 指令仲裁模块的仿真测试第52-53页
        4.2.6 ECC模块仿真测试第53-55页
        4.2.7 时序控制模块仿真测试第55页
    4.3 测试结果分析第55-57页
第5章 DDR3内存控制器IP核的板级调试及验证第57-63页
    5.1 验证平台介绍第57页
    5.2 论证方案及结构分析第57-63页
        5.2.1 验证方案及流程介绍第57-58页
        5.2.2 验证结果及分析第58-63页
结论第63-64页
致谢第64-65页
参考文献第65-67页
攻读学位期间取得学术成果第67页

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