| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第14-24页 |
| 1.1 研究背景 | 第14页 |
| 1.2 太阳能电池简介 | 第14-17页 |
| 1.2.1 太阳能电池的种类 | 第15-16页 |
| 1.2.1.1 硅太阳能电池 | 第15页 |
| 1.2.1.2 有机太阳能电池 | 第15-16页 |
| 1.2.1.3 无机薄膜太阳能电池 | 第16页 |
| 1.2.2 无机薄膜太阳能电池的工作原理 | 第16-17页 |
| 1.3 FeS_2的晶体结构与性能 | 第17-20页 |
| 1.3.1 FeS_2的晶体结构 | 第17-19页 |
| 1.3.2 FeS_2的性能 | 第19-20页 |
| 1.4 FeS_2薄膜制备方法 | 第20-23页 |
| 1.4.1 直接蒸镀法 | 第20页 |
| 1.4.2 分子束外延法 | 第20页 |
| 1.4.3 水热法 | 第20页 |
| 1.4.4 热注入法 | 第20-21页 |
| 1.4.5 铁膜硫化法 | 第21页 |
| 1.4.6 金属有机气相沉积法 | 第21页 |
| 1.4.7 溶胶-凝胶法 | 第21页 |
| 1.4.8 电沉积方法 | 第21-23页 |
| 1.5 研究目的及意义 | 第23-24页 |
| 第二章 实验部分 | 第24-30页 |
| 2.1 试验药品与材料 | 第24-25页 |
| 2.1.1 试验药品与材料 | 第24页 |
| 2.1.2 试验仪器 | 第24-25页 |
| 2.2 试验方法 | 第25-27页 |
| 2.2.1 试验装置 | 第25-26页 |
| 2.2.2 电沉积溶液的配制 | 第26-27页 |
| 2.2.3 ITO阴极的处理 | 第27页 |
| 2.3 试验步骤 | 第27-28页 |
| 2.3.1 电沉积试验 | 第27-28页 |
| 2.3.2 硫化步骤 | 第28页 |
| 2.4 分析测试手段 | 第28-30页 |
| 2.4.1 扫描电子显微镜(SEM) | 第28页 |
| 2.4.2 电子能谱仪(EDS) | 第28页 |
| 2.4.3 X射线衍射(XRD) | 第28-29页 |
| 2.4.4 Raman光谱分析 | 第29页 |
| 2.4.5 紫外-可见-近红外分光光度计(UV/VIS/NIR)测试 | 第29页 |
| 2.4.6 高分辨透射电子显微镜(HRTEM) | 第29页 |
| 2.4.7 霍尔效应(Hall effect)测试 | 第29-30页 |
| 第三章 以FeSO_4为铁源的Fe-S前驱体薄膜的电沉积 | 第30-42页 |
| 3.1 沉积电位范围的确定 | 第30-31页 |
| 3.2 沉积液组分浓度对薄膜成分的影响 | 第31-33页 |
| 3.3 沉积液的pH值对薄膜成分的影响 | 第33-35页 |
| 3.4 沉积电位、时间对薄膜成分的影响 | 第35-40页 |
| 3.5 薄膜的物相分析 | 第40-41页 |
| 3.6 本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 以(NH_4)_2Fe(SO_4)_2为铁源的Fe-S前驱体薄膜的电沉积 | 第42-54页 |
| 4.1 沉积电位范围的确定 | 第42-43页 |
| 4.2 沉积液组分浓度对薄膜成分的影响 | 第43-44页 |
| 4.3 沉积液的pH值对薄膜成分的影响 | 第44-46页 |
| 4.4 沉积电位、时间对薄膜成分的影响 | 第46-51页 |
| 4.5 薄膜的物相分析 | 第51-52页 |
| 4.6 本章小结 | 第52-54页 |
| 第五章 硫化退火对Fe_S2薄膜结构与性能的影响 | 第54-80页 |
| 5.1 硫化温度对FeSO_4制备的前驱薄膜的影响 | 第54-60页 |
| 5.1.1 硫化温度对元素组成的影响 | 第54-55页 |
| 5.1.2 硫化温度对薄膜形貌的影响 | 第55-56页 |
| 5.1.3 硫化温度对薄膜物相及晶型的影响 | 第56-58页 |
| 5.1.4 硫化温度对薄膜光学性能的影响 | 第58-59页 |
| 5.1.5 硫化温度对薄膜电学性能的影响 | 第59-60页 |
| 5.2 硫化时间对FeSO_4制备的前驱薄膜的影响 | 第60-67页 |
| 5.2.1 硫化时间对元素组成的影响 | 第60-61页 |
| 5.2.2 硫化时间对薄膜形貌的影响 | 第61页 |
| 5.2.3 硫化时间对薄膜物相及晶型的影响 | 第61-65页 |
| 5.2.4 HRTEM图谱分析 | 第65页 |
| 5.2.5 硫化时间对薄膜光学性能的影响 | 第65-66页 |
| 5.2.6 硫化时间对薄膜电学性能的影响 | 第66-67页 |
| 5.3 硫化温度对(NH_4)_2 Fe(SO_4)_2制备的前驱薄膜的影响 | 第67-72页 |
| 5.3.1 硫化温度对元素组成的影响 | 第67-68页 |
| 5.3.2 硫化温度对薄膜形貌的影响 | 第68-69页 |
| 5.3.3 硫化温度对物相及晶型的影响 | 第69-71页 |
| 5.3.4 硫化温度对薄膜光学性能的影响 | 第71-72页 |
| 5.3.5 硫化温度对薄膜电学性能的影响 | 第72页 |
| 5.4 硫化时间对(NH_4)_2 Fe(SO_4)_2制备的前驱薄膜的影响 | 第72-79页 |
| 5.4.1 硫化时间对薄膜元素组成的影响 | 第72-73页 |
| 5.4.2 硫化时间对薄膜形貌的影响 | 第73-75页 |
| 5.4.3 硫化时间对薄膜物相及晶型的影响 | 第75-77页 |
| 5.4.4 HRTEM图谱分析 | 第77页 |
| 5.4.5 硫化时间对薄膜光学性能的影响 | 第77-78页 |
| 5.4.6 硫化时间对薄膜电学性能的影响 | 第78-79页 |
| 5.5 本章小结 | 第79-80页 |
| 第六章 结论 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-86页 |
| 致谢 | 第86-88页 |
| 导师及作者简介 | 第88-89页 |
| 北京化工大学专业学位硕士研究生学位论文答辩委员会决议书 | 第89-90页 |
