基于库仑法的镀锡膜厚度检测技术的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·课题背景及意义 | 第10-11页 |
| ·镀锡膜厚度检测方法研究 | 第11-13页 |
| ·库仑测厚仪的发展现状 | 第13-14页 |
| ·本课题研究的内容 | 第14页 |
| ·本章小结 | 第14-16页 |
| 第二章 镀锡膜检测的原理和方法 | 第16-26页 |
| ·镀锡板的基本结构 | 第16-17页 |
| ·库仑法测厚原理 | 第17-19页 |
| ·镀量检测的原理 | 第19-20页 |
| ·精密数控恒流源 | 第20-22页 |
| ·微分电位法 | 第22-23页 |
| ·电解池结构设计 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-26页 |
| 第三章 镀锡膜检测系统的硬件设计 | 第26-46页 |
| ·测量系统的硬件结构 | 第26-32页 |
| ·数控恒流源 | 第32-33页 |
| ·数控恒流源的设计目标及要求 | 第32页 |
| ·恒流源电路实现 | 第32-33页 |
| ·电位监测电路 | 第33-35页 |
| ·计时电路 | 第35-36页 |
| ·供电电路 | 第36-38页 |
| ·电源电路 | 第37-38页 |
| ·高精度 2.5V 参考电压 | 第38页 |
| ·键盘接口及显示电路 | 第38-44页 |
| ·数据存储接口电路 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 软件设计基本思路 | 第46-58页 |
| ·恒流源控制软件部分 | 第48-49页 |
| ·微分电位峰值检测 | 第49-55页 |
| ·一阶滤波算法的原理 | 第50页 |
| ·A/D 采样的一阶滤波算法实现 | 第50-53页 |
| ·微分电位峰值判断算法 | 第53-55页 |
| ·计时部分子程序 | 第55页 |
| ·按键识别以及显示子程序 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-58页 |
| 第五章 镀锡膜检测系统误差分析 | 第58-64页 |
| ·系统误差分析 | 第58-62页 |
| ·恒流源的精度 | 第59-61页 |
| ·计时精度 | 第61页 |
| ·样片剥离面积 | 第61-62页 |
| ·随机误差分析 | 第62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 第六章 镀锡量检测分析系统的测试 | 第64-74页 |
| ·恒流源电解试验 | 第64-66页 |
| ·计时精度试验 | 第66-67页 |
| ·样片腐蚀面积 S 的测量 | 第67-68页 |
| ·修正值测量试验 | 第68-70页 |
| ·仲裁试验法 | 第70-72页 |
| ·本章小结 | 第72-74页 |
| 第七章 总结与展望 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 攻读硕士期间已发表的论文 | 第80-82页 |
| 致谢 | 第82页 |
