金属表面缺陷的微波无损检测研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| ·课题研究的背景及意义 | 第8-9页 |
| ·国内外发展现状 | 第9-11页 |
| ·国外发展现状 | 第9-10页 |
| ·国内发展现状 | 第10-11页 |
| ·论文内容安排及主要工作 | 第11-12页 |
| 第二章 微波无损检测原理 | 第12-28页 |
| ·微波无损检测机理 | 第12-21页 |
| ·微波的物理特性 | 第12-18页 |
| ·介质的电磁特性 | 第18-20页 |
| ·微波检测的原理 | 第20-21页 |
| ·微波无损检测方法及特点 | 第21-26页 |
| ·本章小结 | 第26-28页 |
| 第三章 金属表面缺陷检测方案设计 | 第28-32页 |
| ·需求分析 | 第28-29页 |
| ·关键部件功能及设计 | 第29-30页 |
| ·微波信号源 | 第29页 |
| ·微波探头 | 第29-30页 |
| ·检波器 | 第30页 |
| ·信号处理系统 | 第30页 |
| ·本章小结 | 第30-32页 |
| 第四章 软硬件的设计与实现 | 第32-50页 |
| ·信号源电路 | 第32-36页 |
| ·Lmx2541 芯片简介 | 第32页 |
| ·锁相环路的组成 | 第32-35页 |
| ·电路设计与实现 | 第35-36页 |
| ·谐振腔探头 | 第36-44页 |
| ·谐振腔概述 | 第37页 |
| ·谐振腔探头检测原理 | 第37-38页 |
| ·设计与仿真 | 第38-44页 |
| ·信号处理电路 | 第44-48页 |
| ·外围电路设计 | 第44-47页 |
| ·单片机选择 | 第47页 |
| ·A/D 转换模块 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-50页 |
| 第五章 实验测试与数据分析 | 第50-56页 |
| ·实验装置的组成 | 第50-51页 |
| ·关键部件的测试 | 第51-55页 |
| ·实验数据及分析 | 第55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第六章 总结及展望 | 第56-58页 |
| 致谢 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 攻读硕士期间的研究成果 | 第64-65页 |
