首页--工业技术论文--自动化技术、计算机技术论文--计算技术、计算机技术论文--计算机的应用论文--信息处理(信息加工)论文--模式识别与装置论文

无源超高频射频识别系统性能的分析与评估

摘要第1-7页
Abstract第7-10页
目录第10-13页
插图索引第13-16页
附表索引第16-17页
第1章 绪论第17-32页
   ·课题研究背景第17-19页
   ·课题研究意义第19-21页
   ·RFID 测试技术发展及现状第21-30页
     ·RFID 标准化工作概述第21-24页
     ·RFID 测试装备研发现状第24-26页
     ·相关文献研究现状第26-28页
     ·RFID 测试技术发展面临的挑战第28-30页
   ·主要研究工作第30-32页
第2章 RFID 系统测试平台第32-66页
   ·RFID 系统组成及工作原理第32-37页
     ·RFID 系统组成第32-34页
     ·RFID 系统工作原理第34-37页
   ·RFID 系统测试技术第37-43页
     ·RFID 系统测试的关键技术第37-39页
     ·RFID 系统测试内容第39-42页
     ·RFID 系统测试环境第42-43页
   ·RFID 系统测试平台第43-58页
     ·软件无线电技术第43-45页
     ·虚拟仪器技术第45-48页
     ·RFID 系统测试平台的总体方案第48-50页
     ·RFID 系统测试平台的硬件架构第50-52页
     ·RFID 系统测试平台的软件架构第52-54页
     ·RFID 系统测试平台的测试内容第54-58页
   ·RFID 系统测试平台测试实例第58-65页
     ·空中接口通信协议一致性测试第59-62页
     ·系统识别范围测试第62-63页
     ·RFID 系统测试平台辅助功能第63-65页
   ·小结第65-66页
第3章 标签密集环境下天线互耦效应研究第66-85页
   ·无源 UHF RFID 系统通信链路第66-70页
     ·前向通信链路第67页
     ·反向通信链路第67-70页
   ·互耦效应及互阻抗第70-73页
     ·无源 UHF RFID 天线场区划分第70-71页
     ·互耦的阻抗效应第71-73页
   ·互耦效应对无源 UHF RFID 系统性能的影响第73-78页
     ·RFID 标签天线的互阻抗第73-75页
     ·互耦效应对系统性能影响分析第75-78页
   ·实验结果及分析第78-83页
     ·双标签情形互耦效应对系统性能的影响第78-80页
     ·标签单平面情形互耦效应对系统性能的影响第80-81页
     ·标签双平面情形互耦效应对系统性能的影响第81-83页
   ·小结第83-85页
第4章 无源超高频 RFID 系统路径损耗研究第85-104页
   ·无源 UHF RFID 系统路径损耗第85-89页
     ·自由空间下 RFID 系统路径损耗第85-86页
     ·典型室内传播模型第86-89页
   ·电磁波传播的菲涅尔区第89-91页
   ·第一菲涅尔区受阻隔对系统路径损耗的影响第91-99页
     ·菲涅尔余隙对系统路径损耗的影响第91-93页
     ·阅读器天线至标签间距对系统路径损耗的影响第93-99页
   ·实验结果及分析第99-103页
     ·菲涅尔余隙对系统路径损耗的影响第99-100页
     ·阅读器天线至标签间距对系统路径损耗的影响第100-101页
     ·多径效应对系统路径损耗的影响第101-103页
   ·小结第103-104页
第5章 无源超高频 RFID 系统性能评估及优化第104-121页
   ·无源 UHF RFID 系统传播链路模型第104-111页
     ·阅读器及标签天线极化失配对系统性能的影响第105-107页
     ·标签贴附物对系统性能的影响第107页
     ·工作频率对系统性能的影响第107-108页
     ·空中接口通信参数对系统性能的影响第108-111页
   ·无源 UHF RFID 系统性能评估方法第111-114页
     ·基于系统最大识别距离的系统性能评估方法第111-112页
     ·基于系统识别区域的系统性能评估方法第112-113页
     ·基于目标区域识别率的系统性能评估方法第113-114页
   ·无源 UHF RFID 系统性能优化方法第114-116页
     ·基于标签集的 RFID 系统优化方法第114-115页
     ·基于相位开关的 RFID 系统优化方法第115-116页
   ·实验结果及分析第116-120页
     ·天线极化失配及标签集方法对目标区域识别率的影响第117-118页
     ·阅读器天线高度对目标区域识别率的影响第118-119页
     ·天线数量及相位开关方法对目标区域识别率的影响第119-120页
   ·小结第120-121页
结论第121-123页
参考文献第123-132页
致谢第132-133页
附录 A 攻读学位期间发表的学术论文第133-134页
附录 B 攻读学位期间参与的科研课题和获奖情况第134页

论文共134页,点击 下载论文
上一篇:基于混沌和压缩感知的鲁棒性数字水印研究
下一篇:中国技术寻求型对外直接投资与反向技术溢出效应研究