基于高性能FPGA芯片的逻辑参数库建库研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-21页 |
| ·研究背景 | 第7-13页 |
| ·集成电路发展现状 | 第7-8页 |
| ·集成电路设计方法的进展 | 第8-10页 |
| ·FPGA 简介 | 第10-12页 |
| ·标准单元库 | 第12-13页 |
| ·逻辑参数库建库简介 | 第13-19页 |
| ·工艺背景 | 第13-16页 |
| ·建库工作 | 第16-18页 |
| ·逻辑参数库建库技术现状 | 第18-19页 |
| ·本论文的主要研究工作 | 第19-21页 |
| 第二章 逻辑参数库的建库方案 | 第21-37页 |
| ·逻辑参数库架构的建立 | 第21-22页 |
| ·查表算法 | 第22-26页 |
| ·标准单元的时序参数 | 第22-25页 |
| ·参数表的确定 | 第25-26页 |
| ·采样格点的偏离现象 | 第26-28页 |
| ·采样点分离现象 | 第26-27页 |
| ·采样点偏离现象具有普遍性 | 第27-28页 |
| ·输入信号的产生 | 第28-30页 |
| ·标准单元库中各逻辑参数的物理意义 | 第30-36页 |
| ·延时 | 第30-32页 |
| ·功耗 | 第32-35页 |
| ·逻辑参数库中的时序参数 | 第35-36页 |
| ·电容 | 第36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 各个逻辑参数的提取方法 | 第37-49页 |
| ·时序参数的提取 | 第37-39页 |
| ·功耗 | 第39-44页 |
| ·漏功耗 | 第39-41页 |
| ·内部功耗 | 第41-44页 |
| ·时序参数 | 第44-47页 |
| ·本章小结 | 第47-49页 |
| 第四章 建库系统的实现、优化与验证 | 第49-61页 |
| ·建库系统的初步实现 | 第49-51页 |
| ·平台搭建 | 第49-50页 |
| ·组合与时序两种电路单元类型各自的特点 | 第50-51页 |
| ·仿真结果及整理 | 第51-53页 |
| ·系统优化 | 第53-54页 |
| ·提高仿真的精确度 | 第53页 |
| ·对仿真的速度进行提高 | 第53页 |
| ·提高自动化水平 | 第53-54页 |
| ·等效电容优化关键技术 | 第54-58页 |
| ·两种等效电容模型 | 第54-55页 |
| ·电容的提取方法 | 第55-57页 |
| ·功耗 | 第57-58页 |
| ·对电容的描述问题对应的解决思路 | 第58页 |
| ·结果与验证 | 第58-59页 |
| ·本章小结 | 第59-61页 |
| 第五章 结论 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 附录 | 第69-78页 |
