提高数控机床定位精度方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| ·课题研究的背景及意义 | 第10-11页 |
| ·国内外开展研究的现状 | 第11-15页 |
| ·国外开展研究的现状 | 第11-14页 |
| ·国内开展的研究现状 | 第14-15页 |
| ·论文主要工作及结构安排 | 第15-18页 |
| 第2章 影响定位精度的环境因素分析 | 第18-30页 |
| ·机床伺服系统误差分析 | 第18-22页 |
| ·半闭环控制伺服系统误差分析 | 第18-19页 |
| ·全闭环控制伺服系统误差分析 | 第19-21页 |
| ·数控设备的定位精度补偿 | 第21-22页 |
| ·外界环境干扰对定位精度的影响分析 | 第22-25页 |
| ·生产环境中的几种干扰源 | 第22页 |
| ·抗干扰的措施 | 第22-25页 |
| ·热量引起的误差对精度的影响 | 第25-27页 |
| ·热变形因素分析 | 第25页 |
| ·消除热误差的措施 | 第25-27页 |
| ·本章小结 | 第27-30页 |
| 第3章 导轨精度对数控设备精度的影响分析 | 第30-40页 |
| ·设备导轨自身精度及其对设备精度产生的影响 | 第30-31页 |
| ·机床导轨精度 | 第30页 |
| ·导轨精度对机床精度的影响 | 第30-31页 |
| ·导轨之间的平行度对定位精度的影响分析 | 第31页 |
| ·导轨自身直线度对定位精度的影响分析 | 第31-33页 |
| ·影响导轨几何精度的原因及措施 | 第33-37页 |
| ·残余应力对精度的影响 | 第33-34页 |
| ·提高导轨精度的措施 | 第34-37页 |
| ·本章小结 | 第37-40页 |
| 第4章 高精度轨迹控制的方法研究 | 第40-48页 |
| ·数控设备轨迹控制的原理 | 第40页 |
| ·高速下高精度轨迹的生成 | 第40-42页 |
| ·基本措施 | 第40页 |
| ·数学模型 | 第40-41页 |
| ·实时插补计算 | 第41页 |
| ·算例分析 | 第41-42页 |
| ·实现设备精度控制的方法 | 第42-47页 |
| ·系统组成 | 第42-43页 |
| ·稳定性分析 | 第43-45页 |
| ·跟随误差分析 | 第45-47页 |
| ·轨迹误差校正 | 第47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第5章 机床定位误差检测与补偿方法研究 | 第48-58页 |
| ·测量方法对比分析 | 第49-50页 |
| ·矢量测量法 | 第50-55页 |
| ·基本思想 | 第50-51页 |
| ·理论推导 | 第51-55页 |
| ·激光矢量测量方法验证 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-58页 |
| 结论 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66页 |
