提高数控机床定位精度方法研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第1章 绪论 | 第10-18页 |
·课题研究的背景及意义 | 第10-11页 |
·国内外开展研究的现状 | 第11-15页 |
·国外开展研究的现状 | 第11-14页 |
·国内开展的研究现状 | 第14-15页 |
·论文主要工作及结构安排 | 第15-18页 |
第2章 影响定位精度的环境因素分析 | 第18-30页 |
·机床伺服系统误差分析 | 第18-22页 |
·半闭环控制伺服系统误差分析 | 第18-19页 |
·全闭环控制伺服系统误差分析 | 第19-21页 |
·数控设备的定位精度补偿 | 第21-22页 |
·外界环境干扰对定位精度的影响分析 | 第22-25页 |
·生产环境中的几种干扰源 | 第22页 |
·抗干扰的措施 | 第22-25页 |
·热量引起的误差对精度的影响 | 第25-27页 |
·热变形因素分析 | 第25页 |
·消除热误差的措施 | 第25-27页 |
·本章小结 | 第27-30页 |
第3章 导轨精度对数控设备精度的影响分析 | 第30-40页 |
·设备导轨自身精度及其对设备精度产生的影响 | 第30-31页 |
·机床导轨精度 | 第30页 |
·导轨精度对机床精度的影响 | 第30-31页 |
·导轨之间的平行度对定位精度的影响分析 | 第31页 |
·导轨自身直线度对定位精度的影响分析 | 第31-33页 |
·影响导轨几何精度的原因及措施 | 第33-37页 |
·残余应力对精度的影响 | 第33-34页 |
·提高导轨精度的措施 | 第34-37页 |
·本章小结 | 第37-40页 |
第4章 高精度轨迹控制的方法研究 | 第40-48页 |
·数控设备轨迹控制的原理 | 第40页 |
·高速下高精度轨迹的生成 | 第40-42页 |
·基本措施 | 第40页 |
·数学模型 | 第40-41页 |
·实时插补计算 | 第41页 |
·算例分析 | 第41-42页 |
·实现设备精度控制的方法 | 第42-47页 |
·系统组成 | 第42-43页 |
·稳定性分析 | 第43-45页 |
·跟随误差分析 | 第45-47页 |
·轨迹误差校正 | 第47页 |
·本章小结 | 第47-48页 |
第5章 机床定位误差检测与补偿方法研究 | 第48-58页 |
·测量方法对比分析 | 第49-50页 |
·矢量测量法 | 第50-55页 |
·基本思想 | 第50-51页 |
·理论推导 | 第51-55页 |
·激光矢量测量方法验证 | 第55-56页 |
·本章小结 | 第56-58页 |
结论 | 第58-60页 |
参考文献 | 第60-64页 |
攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第64-66页 |
致谢 | 第66页 |