基于混沌原理32位随机数发生器的设计与分析
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-12页 |
| 第1章 引言 | 第12-14页 |
| ·概述 | 第12-13页 |
| ·随机数发生器的发展概况 | 第13-14页 |
| 第2章 混沌原理分析及电路实现 | 第14-36页 |
| ·三种真随机数发生器 | 第14-17页 |
| ·物理热噪声随机数发生器 | 第14-15页 |
| ·振荡频率采样随机数发生器 | 第15-16页 |
| ·离散时间混沌系统的随机数发生器 | 第16页 |
| ·三种模拟随机数发生器优缺点比较 | 第16-17页 |
| ·混沌原理分析 | 第17-36页 |
| ·混沌随机基本产生机制 | 第17-22页 |
| ·电路实现及仿真 | 第22-36页 |
| 第3章 伪随机数原理及电路实现 | 第36-66页 |
| ·LFSR 伪随机数原理 | 第36-44页 |
| ·伪随机序列的产生 | 第36-39页 |
| ·m 序列 | 第39-44页 |
| ·RNGC 电路实现 | 第44-54页 |
| ·模块框图 | 第46页 |
| ·功能描述 | 第46-49页 |
| ·模块接口 | 第49-50页 |
| ·寄存器说明 | 第50-53页 |
| ·关键时序 | 第53-54页 |
| ·RNGC 分析及验证 | 第54-66页 |
| ·验证流程 | 第55-56页 |
| ·测试点与功能覆盖 | 第56-58页 |
| ·测例说明 | 第58-64页 |
| ·代码覆盖率报告 | 第64-66页 |
| 第4章 随机数发生器性能测试 | 第66-73页 |
| ·FIPS140-1 国际安全标准 | 第66-68页 |
| ·随机数发生器 FPGA 验证 | 第68-73页 |
| ·随机数发生器 FPGA 测试平台 | 第68-71页 |
| ·随机数性能测试结果 | 第71-73页 |
| 第5章 结论 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-79页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文及参加科研情况 | 第79-80页 |