多功能光损耗测试仪的设计与应用
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-20页 |
| ·引言 | 第14页 |
| ·PON 介绍 | 第14-16页 |
| ·FTTx 概述 | 第14-15页 |
| ·EPON 介绍 | 第15-16页 |
| ·EPON 测试方法 | 第16-18页 |
| ·EPON 开通测试 | 第16页 |
| ·EPON 损耗值测试 | 第16-17页 |
| ·EPON 的故障诊断测试 | 第17-18页 |
| ·课题背景 | 第18-19页 |
| ·国内外研究现状 | 第19页 |
| 本章小结 | 第19-20页 |
| 第二章 仪表的功能介绍 | 第20-23页 |
| ·系统架构及技术指标 | 第20-21页 |
| ·仪表工作模式 | 第21-23页 |
| ·双向损耗量测模式 | 第21页 |
| ·单向损耗量测模式 | 第21-22页 |
| ·光功率量测模式 | 第22页 |
| ·光源模式 | 第22页 |
| ·语音通话模式 | 第22-23页 |
| 第三章 光源电路设计 | 第23-35页 |
| ·激光技术简介 | 第23-28页 |
| ·激光及其特性 | 第23-24页 |
| ·激光器的种类 | 第24页 |
| ·半导体激光器选取 | 第24-28页 |
| ·光发射电路原理 | 第28-34页 |
| ·恒定激光信号输出原理 | 第29-30页 |
| ·半导体激光器调制原理 | 第30-33页 |
| ·LD 驱动电路 | 第33-34页 |
| 本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 光信号接收及光功率量测电路 | 第35-47页 |
| ·引言 | 第35页 |
| ·光电探测器 | 第35-39页 |
| ·光电探测器及类型 | 第35-36页 |
| ·光电探测器主要性能参数 | 第36-37页 |
| ·光电探测器噪声分析 | 第37页 |
| ·光电探测器的选型 | 第37-39页 |
| ·前置放大电路 | 第39-41页 |
| ·光信号检测电路 | 第41-42页 |
| ·光功率量测分析 | 第42-46页 |
| ·光功率电路原理 | 第42-43页 |
| ·AD8304 对数放大器应用原理 | 第43-45页 |
| ·设计中 AD8304 实际应用电路 | 第45-46页 |
| 本章总结 | 第46-47页 |
| 第五章 处理器及外围电路应用 | 第47-53页 |
| ·处理器选取及其特性 | 第47-48页 |
| ·主要特性 | 第47-48页 |
| ·芯片外围电路模块设计 | 第48-53页 |
| ·晶振设计 | 第48-49页 |
| ·AD 转换器模块 | 第49页 |
| ·SD 卡接口电路 | 第49页 |
| ·语音通讯接口电路 | 第49-50页 |
| ·串口通讯 | 第50页 |
| ·usb 接口电路 | 第50-51页 |
| ·EEROM 存储器配置 | 第51-52页 |
| ·LCD 显示器 | 第52页 |
| ·控制电路板抗干扰措施 | 第52-53页 |
| 第六章 系统软件实现 | 第53-60页 |
| ·GUI 程序架构 | 第53页 |
| ·表驱动法在设计中的应用 | 第53-57页 |
| ·表驱动法介绍 | 第54页 |
| ·设计中表驱动的实现 | 第54-57页 |
| ·软件流程设计 | 第57-59页 |
| 本章小结 | 第59-60页 |
| 第七章 系统测试验证 | 第60-64页 |
| ·光源稳定性验证 | 第60-61页 |
| ·光功率量测准确度验证 | 第61-63页 |
| 本章小结 | 第63-64页 |
| 第八章 结论与展望 | 第64-65页 |
| ·本文总结 | 第64页 |
| ·下一步研究计划和展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第68页 |
