电池盖片粘接硅橡胶的空间环境效应研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-26页 |
| ·课题目的及意义 | 第10-11页 |
| ·空间环境概述 | 第11-13页 |
| ·真空 | 第11页 |
| ·热环境 | 第11-12页 |
| ·空间带电粒子辐照 | 第12页 |
| ·太阳电磁辐射 | 第12-13页 |
| ·微流星和空间碎片 | 第13页 |
| ·地磁场和引力场 | 第13页 |
| ·原子氧 | 第13页 |
| ·胶接材料与空间环境的交互作用 | 第13-16页 |
| ·真空对胶接材料的影响 | 第13-14页 |
| ·热循环对胶接材料的影响 | 第14-15页 |
| ·带电粒子辐照对胶接材料的影响 | 第15页 |
| ·紫外辐射对胶接材料的影响 | 第15-16页 |
| ·原子氧对胶接材料的影响 | 第16页 |
| ·胶粘剂的发展和空间胶粘剂 | 第16-19页 |
| ·胶接理论的发展 | 第16-17页 |
| ·胶接结构的特点及其在航空航天领域的应用 | 第17-18页 |
| ·空间胶粘剂的分类 | 第18页 |
| ·空间胶接材料的主要研究方向 | 第18-19页 |
| ·胶接理论和胶粘剂胶接破坏机理 | 第19-24页 |
| ·硅橡胶粘合剂的类型 | 第19-20页 |
| ·胶粘剂的粘接理论 | 第20-22页 |
| ·胶接的破坏机理 | 第22-23页 |
| ·影响粘接强度的因素 | 第23-24页 |
| ·本文的研究内容 | 第24-26页 |
| 第2章 材料及研究方法 | 第26-31页 |
| ·试验材料 | 第26页 |
| ·试验设备和方法 | 第26-28页 |
| ·试验方案 | 第28-29页 |
| ·质子辐照试验 | 第28页 |
| ·电子辐照实验 | 第28-29页 |
| ·紫外辐照实验 | 第29页 |
| ·透过率测试 | 第29页 |
| ·微观结构分析 | 第29-31页 |
| ·表面及其断口的扫描电镜分析 | 第29页 |
| ·红外光谱分析 | 第29-30页 |
| ·质谱分析 | 第30页 |
| ·X-射线光电子能谱分析（XPS） | 第30-31页 |
| 第3章 硅橡胶质子辐照损伤效应研究 | 第31-46页 |
| ·质子辐照对硅橡胶光学性能的影响 | 第31-36页 |
| ·表面及断口扫描电镜分析 | 第36-40页 |
| ·盖片/胶试样的表面SEM形貌 | 第36-38页 |
| ·盖片/胶试样的断口SEM形貌 | 第38-40页 |
| ·傅立叶变换红外光谱分析 | 第40-42页 |
| ·质谱分析 | 第42-43页 |
| ·X-射线光电子能谱分析 | 第43-44页 |
| ·硅橡胶质子辐照损伤机理分析 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第4章 硅橡胶电子辐照损伤效应研究 | 第46-59页 |
| ·电子辐照对硅橡胶光学透过率的影响 | 第46-49页 |
| ·表面及断口扫描电镜分析 | 第49-55页 |
| ·傅立叶变换红外光谱分析 | 第55页 |
| ·质谱分析 | 第55-56页 |
| ·X-射线光电子能谱分析 | 第56-57页 |
| ·硅橡胶电子辐照损伤机理分析 | 第57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 第5章 硅橡胶紫外辐照损伤效应研究 | 第59-63页 |
| ·紫外辐照对硅橡胶光学透过率的影响 | 第59-60页 |
| ·微观形貌分析 | 第60-61页 |
| ·傅立叶变换红外光谱分析 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 结论 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 致谢 | 第68页 |
