FPGA工艺映射算法研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 引言 | 第7-12页 |
·FPGA设计简介 | 第7-10页 |
·研究背景 | 第10页 |
·主要工作 | 第10-11页 |
·论文组织结构 | 第11-12页 |
第2章 结构化工艺映射研究 | 第12-38页 |
·概述 | 第12页 |
·基本概念 | 第12-16页 |
·术语定义 | 第12-14页 |
·问题描述 | 第14-16页 |
·结构化工艺映射 | 第16-21页 |
·整体流程 | 第16页 |
·分割枚举 | 第16-17页 |
·分割排序 | 第17-19页 |
·主要改进算法 | 第19-21页 |
·FDMap算法 | 第21-31页 |
·算法简介 | 第21页 |
·预处理 | 第21页 |
·网表分解 | 第21-28页 |
·工艺映射 | 第28-31页 |
·算法流程图 | 第31页 |
·实验结果与分析 | 第31-37页 |
·FDMap工艺映射结果 | 第31-35页 |
·枚举加速效果 | 第35-36页 |
·FDBalance优化结果 | 第36-37页 |
·本章小结 | 第37-38页 |
第3章 异构工艺映射研究 | 第38-50页 |
·概述 | 第38页 |
·基于布尔匹配的异构算法 | 第38-44页 |
·布尔匹配 | 第38-40页 |
·SAT问题描述 | 第40-41页 |
·基于SAT的布尔匹配 | 第41-43页 |
·改进策略 | 第43-44页 |
·FDBMap异构算法 | 第44-47页 |
·算法描述 | 第44-45页 |
·用SAT的方法求解 | 第45-47页 |
·算法流程图 | 第47页 |
·实验结果与分析 | 第47-49页 |
·本章小结 | 第49-50页 |
第4章 抗辐射工艺映射研究 | 第50-68页 |
·概述 | 第50页 |
·错误仿真平台 | 第50-56页 |
·错误建模 | 第50-51页 |
·错误仿真 | 第51-53页 |
·并行仿真加速 | 第53-56页 |
·纠错技术研究 | 第56-59页 |
·TMR与部分TMR | 第56-57页 |
·其他抗辐射方法 | 第57-59页 |
·FDRMap抗辐射算法 | 第59-62页 |
·算法描述 | 第59-62页 |
·算法流程图 | 第62页 |
·实验结果与分析 | 第62-67页 |
·并行仿真加速 | 第62-63页 |
·部分TMR效果 | 第63-65页 |
·FDRMap算法效果 | 第65-67页 |
·本章小结 | 第67-68页 |
第5章 总结与展望 | 第68-70页 |
·工作总结 | 第68-69页 |
·工作展望 | 第69-70页 |
参考文献 | 第70-73页 |
致谢 | 第73-74页 |
攻读学位期间科研成果 | 第74-75页 |