| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-13页 |
| ·引言 | 第7-8页 |
| ·红外热成像技术的国内外发展现状 | 第8-9页 |
| ·红外热成像技术概述 | 第9-12页 |
| ·本文的主要工作 | 第12-13页 |
| 2 红外图像的特征、非均匀性的概念及产生原因 | 第13-22页 |
| ·红外图像的特征 | 第13页 |
| ·红外图像非均匀性的基本概念 | 第13-16页 |
| ·红外图像非均匀性产生的原因 | 第16-18页 |
| ·红外焦平面阵列探测器(IRFPA)简介 | 第18页 |
| ·红外图像非均匀性校正的意义 | 第18-19页 |
| ·盲元的检测及补偿 | 第19-22页 |
| 3 红外图像非均匀性校正的基本算法 | 第22-34页 |
| ·非均匀性校正算法概述 | 第22页 |
| ·基于红外参照源的校正算法 | 第22-30页 |
| ·一点校正法 | 第22-24页 |
| ·两点校正法 | 第24-28页 |
| ·多点校正法 | 第28-30页 |
| ·基于场景的非均匀性校正算法 | 第30-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 4 基于探测元响应非线性的两点压缩校正算法及硬件实现 | 第34-51页 |
| ·基于探测元响应非线性的两点压缩校正算法原理 | 第34-38页 |
| ·焦平面探测器单元的实际响应曲线 | 第34-36页 |
| ·基于探测元响应非线性的两点校正算法原理 | 第36-37页 |
| ·压缩校正的思想 | 第37-38页 |
| ·基于探测元响应非线性的两点压缩校正算法的仿真效果 | 第38页 |
| ·基于探测元响应非线性的两点压缩校正算法的硬件实现 | 第38-41页 |
| ·处理器框架 | 第38-39页 |
| ·器件的选择与介绍 | 第39-40页 |
| ·算法的实现过程 | 第40-41页 |
| ·各种校正方法比较 | 第41-45页 |
| ·校正后残留非均匀性的比较 | 第42-45页 |
| ·校正速度的比较 | 第45页 |
| ·图像的综合处理 | 第45-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 结束语 | 第51-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-54页 |
