| 中文摘要 | 第1页 |
| 英文摘要 | 第3-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-13页 |
| ·提高盆式绝缘子闪络电压的意义 | 第6-7页 |
| ·影响盆式绝缘子沿面闪络电压的因素 | 第7-9页 |
| ·电场分布情况和电压波形的影响 | 第7页 |
| ·气体条件的影响 | 第7-8页 |
| ·导电颗粒的影响 | 第8页 |
| ·表面电荷对沿面闪络的影响 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-11页 |
| ·表面电场分布的研究 | 第9-10页 |
| ·表面电荷积聚的研究 | 第10-11页 |
| ·研究的主要工作 | 第11-13页 |
| 第二章 试验系统及表面电荷测量装置 | 第13-24页 |
| ·试样与电极系统 | 第13-14页 |
| ·真空试验腔与真空系统 | 第14-17页 |
| ·表面电荷测量系统 | 第17-23页 |
| ·表面电荷测量方法概述 | 第17-18页 |
| ·静电容探头法的测量原理 | 第18页 |
| ·静电容探头的具体制作 | 第18-21页 |
| ·静电电荷探头的灵敏度 | 第21-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 绝缘子表面电场分布的ANSYS仿真分析 | 第24-37页 |
| ·ANSYS 工程软件简介 | 第24-25页 |
| ·ANSYS 的特点 | 第24-25页 |
| ·ANSYS 分析的主要步骤 | 第25页 |
| ·三维仿真模型的建立 | 第25-31页 |
| ·参数的选取 | 第25-26页 |
| ·三维模型仿真分析的操作步骤 | 第26-29页 |
| ·电极与绝缘子间气隙的影响 | 第29-31页 |
| ·仿真结果分析 | 第31-35页 |
| ·导电颗粒位置对电场分布的影响 | 第31-32页 |
| ·导电颗粒长度对电场分布的影响 | 第32-33页 |
| ·导电颗粒位置与长度对绝缘子表面电场分布影响的综合分析. | 第33-34页 |
| ·导电颗粒直径对绝缘子表面电场分布的影响 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-37页 |
| 第四章 真空中导电颗粒对绝缘子表面电荷积聚的影响 | 第37-49页 |
| ·没有金属颗粒时绝缘子表面电荷的积聚 | 第37-40页 |
| ·电压作用时间的影响 | 第37-39页 |
| ·电压幅值的影响 | 第39-40页 |
| ·导电颗粒对绝缘子表面电荷积聚的影响 | 第40-45页 |
| ·导电颗粒长度的影响 | 第41-42页 |
| ·导电颗粒直径的影响 | 第42-43页 |
| ·导电颗粒位置的影响 | 第43-45页 |
| ·导电颗粒对绝缘子闪络电压的影响 | 第45-47页 |
| ·颗粒长度对闪络电压的影响 | 第45-46页 |
| ·颗粒直径对闪络电压的影响 | 第46页 |
| ·闪络过程绝缘子表面电荷的变化 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-49页 |
| 第五章 结论 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
| 在学校期间发表论文和参加科研情况 | 第54页 |