| 摘要 | 第1-9页 |
| Abstract | 第9-12页 |
| 目录 | 第12-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-34页 |
| ·分组测试问题的起源和研究内容 | 第16-18页 |
| ·分组测试问题的起源 | 第16-17页 |
| ·分组测试问题的主要研究内容 | 第17-18页 |
| ·预备知识 | 第18-29页 |
| ·符号、定义和引理 | 第18-25页 |
| ·分组测试算法的分类 | 第25-26页 |
| ·分组测试模型的分类 | 第26-29页 |
| ·分组测试问题的研究现状 | 第29-31页 |
| ·本文的主要内容和结构安排 | 第31-34页 |
| 第二章 鉴别相同伪硬币的分组测试 | 第34-64页 |
| ·模型S_C(2)的鉴别算法 | 第34-44页 |
| ·模型S_C(2)对无限多个λ值的一个最优鉴别算法 | 第35-37页 |
| ·模型S_C(2)的一个最优鉴别算法的猜想 | 第37-41页 |
| ·验证模型S_C(2)的一个最优鉴别算法的猜想 | 第41-44页 |
| ·模型S_C(3)的鉴别算法 | 第44-54页 |
| ·模型S_C(3)对无限多个λ值的最优鉴别算法 | 第45-51页 |
| ·模型S_C(3)的一个最优鉴别算法的猜想 | 第51-54页 |
| ·模型S_C(4)的鉴别算法 | 第54-64页 |
| 第三章 挑选不同伪硬币的分组测试 | 第64-90页 |
| ·模型D_C(2)的挑选算法 | 第64-72页 |
| ·模型D_C(3)的挑选算法 | 第72-81页 |
| ·模型D_C(4)的挑选算法 | 第81-90页 |
| 第四章 鉴别不同伪硬币的分组测试 | 第90-108页 |
| ·模型D_C(2)的鉴别算法 | 第90-98页 |
| ·模型D_C(3)的鉴别算法 | 第98-102页 |
| ·模型D_C(4)的鉴别分组测试算法 | 第102-108页 |
| 第五章 若干个伪硬币的分组测试及变形问题 | 第108-138页 |
| ·搜索若干个伪硬币基本模型的分组测试 | 第108-110页 |
| ·模型G_T(h)的分组测试 | 第110-112页 |
| ·分组测试问题的变形问题Ⅰ | 第112-118页 |
| ·符号、定义和引理 | 第112-115页 |
| ·一个分组测试算法 | 第115-118页 |
| ·分组测试问题的变形问题Ⅱ | 第118-126页 |
| ·符号、定义和引理 | 第119-121页 |
| ·主要结果 | 第121-126页 |
| ·对信息论下界可达性问题的研究 | 第126-138页 |
| 第六章 最优分组测试算法的控制 | 第138-156页 |
| ·比较型测试装置下的最优分组测试算法的控制 | 第138-141页 |
| ·近似与精确控制标准及其计算 | 第141-152页 |
| ·近似与精确控制标准 | 第141-142页 |
| ·控制标准的计算 | 第142-150页 |
| ·分组测试算法的最优控制方法 | 第150-152页 |
| ·结论 | 第152-156页 |
| 第七章 分组测试理论的应用 | 第156-168页 |
| ·分组测试理论在短路测试中的应用 | 第156-165页 |
| ·一些定义和引理 | 第157-158页 |
| ·无约束二分划测试算法H的主要结果 | 第158-163页 |
| ·有约束二分划测试算法H的主要结果 | 第163-165页 |
| ·结论 | 第165-168页 |
| 结束语 | 第168-170页 |
| 参考文献 | 第170-178页 |
| 在读博士期间撰写(发表)的论文目录 | 第178-181页 |
| 参加的科研项目 | 第181-182页 |
| 简历 | 第182-183页 |
| 致谢 | 第183页 |