电容层析成像系统的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 1 绪论 | 第11-14页 |
| ·过程层析成像技术概述 | 第11-12页 |
| ·本文的主要工作及意义 | 第12-14页 |
| 2 电容层析成像系统 | 第14-20页 |
| ·电容层析成像技术概述 | 第14-15页 |
| ·电容层析成像系统的特性分析 | 第15-16页 |
| ·ECT系统硬件总体方案设计 | 第16-20页 |
| 3 ECT系统硬件设计 | 第20-52页 |
| ·ECT系统C／V转换电路 | 第20-24页 |
| ·交流C／V转换及放大电路 | 第20-22页 |
| ·非理想条件下杂散电容对C／V转换电路的影响 | 第22-24页 |
| ·ECT系统的阵列式电容传感器 | 第24-26页 |
| ·电容传感器的结构及设计原则 | 第25-26页 |
| ·本课题传感器的设计 | 第26页 |
| ·传感器极板阵列控制电路 | 第26-28页 |
| ·信号发生器 | 第28-30页 |
| ·增益可编程放大器 | 第30-31页 |
| ·相敏解调电路 | 第31-34页 |
| ·相关检测电路的工作原理 | 第31-32页 |
| ·模拟乘法器AD734简介 | 第32-33页 |
| ·AD734工作电路及参数设计 | 第33-34页 |
| ·低通滤波电路 | 第34-35页 |
| ·增益可控差动电路 | 第35-36页 |
| ·D／A补偿电路 | 第36-39页 |
| ·D／A转换器MAX530简介 | 第37页 |
| ·MAX530电路设计 | 第37-39页 |
| ·A／D测量电路 | 第39-42页 |
| ·A／D转换器ADS7800简介 | 第39-40页 |
| ·ADS7800的电路设计 | 第40-42页 |
| ·单片机控制处理电路 | 第42-44页 |
| ·单片机P89C51RD2 | 第42-43页 |
| ·并行口扩展电路 | 第43页 |
| ·通信电路 | 第43-44页 |
| ·开关耦合电容的影响及解决方案 | 第44-47页 |
| ·开关耦合电容对成像稳定性影响的分析 | 第44-46页 |
| ·解决方案 | 第46-47页 |
| ·数据采集系统的性能指标 | 第47-52页 |
| ·系统分辨率 | 第47-49页 |
| ·系统响应时间 | 第49-52页 |
| 4 系统软件设计 | 第52-60页 |
| ·主程序 | 第52-53页 |
| ·耦合电容测量模块设计 | 第53-55页 |
| ·数据采集模块设计 | 第55-57页 |
| ·自诊断模块设计 | 第57页 |
| ·通信模块设计 | 第57-60页 |
| 5 ECT系统实验装置开发及实验 | 第60-70页 |
| ·ECT系统实验装置描述 | 第60-61页 |
| ·ECT系统实验装置性能实验 | 第61-66页 |
| ·C／V转换电路的线性度实验 | 第61-62页 |
| ·杂散电容对C／V转换电路影响的实验 | 第62-63页 |
| ·数据采集电路建立时间实验 | 第63页 |
| ·模拟开关耦合电容软件补偿实验 | 第63-66页 |
| ·ECT系统实验装置成像实验 | 第66-70页 |
| ·模拟气／固两相流成像实验 | 第66-68页 |
| ·不同成像对象的成像实验 | 第68-69页 |
| ·系统图像重建速率 | 第69-70页 |
| 6 结论与展望 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
| 在学研究成果 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76页 |
