第一章 引言 | 第1-14页 |
1.1 旋波媒质及其应用 | 第9-10页 |
1.2 国内外研究动态 | 第10-11页 |
1.3 旋波材料测试方法简介 | 第11-13页 |
1.3.1 波导法 | 第11-12页 |
1.3.2 自由空间法 | 第12-13页 |
1.4 课题来源及研究内容 | 第13-14页 |
第二章 理论分析 | 第14-33页 |
2.1 旋波媒质的波动方程 | 第14-16页 |
2.1.1 无源区的麦克斯韦方程组 | 第14页 |
2.1.2 电场矢量的波动方程 | 第14-15页 |
2.1.3 磁场矢量的波动方程 | 第15页 |
2.1.4 小结 | 第15-16页 |
2.2 平面波在旋波媒质中的传播 | 第16-19页 |
2.2.1 平面波的分裂 | 第16-17页 |
2.2.2 分裂波的极化 | 第17-18页 |
2.2.3 波阻抗——电场与磁场的相互关系 | 第18-19页 |
2.3 自由空间法的模型分析 | 第19-26页 |
2.3.1 无金属衬底的平板 | 第19-25页 |
2.3.1.1 平面波斜入射 | 第19-22页 |
2.3.1.2 平面波垂直入射的场解 | 第22-23页 |
2.3.1.3 小结 | 第23-25页 |
2.3.2 有金属衬底的平板 | 第25-26页 |
2.4 S参量表达式 | 第26-29页 |
2.5 求解微波参数 | 第29-33页 |
2.5.1 利用{S_11,S_21x,S_21y}求解 | 第29-30页 |
2.5.2 利用{S_11,S_21y,S_11m}求解 | 第30-31页 |
2.5.3 n=0 时的解 | 第31-33页 |
第三章 测试系统及校准 | 第33-37页 |
3.1 系统组成 | 第33页 |
3.2 系统误差及校准 | 第33-37页 |
3.2.1 测试系统的误差 | 第34页 |
3.2.2 TRL校准技术原理简介 | 第34-35页 |
3.2.3 自由空间测试系统的TRL校准 | 第35-37页 |
第四章 样品 | 第37-39页 |
第五章 模拟计算 | 第39-45页 |
5.1 验证S参量表达式 | 第39-43页 |
5.1.1 d=0的情况 | 第39页 |
5.1.2 空气隙的情况 | 第39-41页 |
5.1.3 ξ=0的情况 | 第41-43页 |
5.1.4 小结 | 第43页 |
5.2 模拟求解微波参数 | 第43-45页 |
第六章 一种时域方法的探讨 | 第45-46页 |
第七章 结论 | 第46-47页 |
参考文献 | 第47-49页 |
致谢 | 第49-50页 |
附录 | 第50-56页 |
A1平面波斜入射到旋波媒质平板 | 第50-52页 |
A2利用{S_11,S_21y,S_21x}求解微波参数 | 第52-55页 |
A2.1求解中间变量C_R/C_L、g、C_RC_L | 第52-53页 |
A2.2由中间变量求解微波参数 | 第53-55页 |
A3利用{S_11y,S_21y,S_11mm}求解微波参数 | 第55-56页 |