高性能CPU测试系统的设计与实现
| 中文摘要 | 第1页 |
| ABSTRACT | 第3-4页 |
| 第一章 绪论 | 第4-10页 |
| §1．1 芯片测试系统提出的背景 | 第4-6页 |
| §1．2 测试系统框架结构及设计实现 | 第6-9页 |
| §1．3 本文内容及所做的主要工作 | 第9-10页 |
| 第二章 测试系统方案原理 | 第10-16页 |
| §2．1 MBUS总线模拟基本原理 | 第10-14页 |
| §2．2 PC机通讯程序基本原理 | 第14页 |
| §2．3 单片机通讯与控制基本原理 | 第14-15页 |
| §2．4 本章小结 | 第15-16页 |
| 第三章 测试系统设计实现 | 第16-37页 |
| §3．1 MBUS总线模型的设计实现 | 第16-24页 |
| §3．2 PC机通讯程序的设计实现 | 第24-31页 |
| §3．3 单片机通讯与控制程序的实现 | 第31-34页 |
| §3．4 测试系统PCB设计 | 第34-36页 |
| §3．5 本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 测试系统仿真验证 | 第37-55页 |
| §4．1 MBUS总线模型仿真与调试 | 第37-45页 |
| §4．2 PC机通讯程序仿真与调试 | 第45-50页 |
| §4．3 单片机通讯与控制程序仿真与调试 | 第50-54页 |
| §4．4 本章小结 | 第54-55页 |
| 结束语 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-58页 |
| 附录A | 第58-66页 |
