系统芯片外建自测试技术研究
摘要 | 第1-9页 |
Abstract | 第9-11页 |
致谢 | 第11-13页 |
目录 | 第13-16页 |
插图清单 | 第16-18页 |
表格清单 | 第18-19页 |
第一章 绪论 | 第19-31页 |
·研究的背景和意义 | 第20-22页 |
·国内外研究现状 | 第22-28页 |
·测试集紧缩技术 | 第23-24页 |
·内建自测试技术 | 第24-26页 |
·外建自测试技术 | 第26-28页 |
·论文的主要贡献及结构安排 | 第28-31页 |
第二章 基于代码字相关性编码的测试数据压缩方案 | 第31-51页 |
·共前缀码算法 | 第31-39页 |
·共前缀码编码表 | 第31-33页 |
·编码算法的理论分析 | 第33-35页 |
·解压电路的设计 | 第35-37页 |
·实验结果 | 第37-39页 |
·共游程码算法 | 第39-49页 |
·共游程码编码表 | 第39-42页 |
·编码算法的理论分析 | 第42-44页 |
·解压电路的设计 | 第44-46页 |
·实验结果 | 第46-49页 |
·小结 | 第49-51页 |
第三章 基于定变长混合码的测试数据压缩方案 | 第51-71页 |
·混合定变长码编码算法 | 第51-60页 |
·混合定变长编码 | 第51-53页 |
·编码算法的理论分析与首部位宽选择 | 第53-56页 |
·解压电路的设计 | 第56-58页 |
·实验结果 | 第58-60页 |
·混合定变长虚拟块编码算法 | 第60-70页 |
·混合定变长虚拟块游程编码 | 第60-63页 |
·编码算法的理论分析 | 第63-65页 |
·解压电路的设计 | 第65-66页 |
·实验结果 | 第66-70页 |
·小结 | 第70-71页 |
第四章 测试集变换压缩技术 | 第71-89页 |
·选择性反向输出技术 | 第71-77页 |
·选择性反向输出结构 | 第71-73页 |
·反向输出集选择算法 | 第73-76页 |
·实验结果 | 第76-77页 |
·相邻位逻辑运算技术 | 第77-88页 |
·相邻位逻辑运算算法 | 第79-81页 |
·相邻位逻辑运算编码 | 第81-83页 |
·压缩效率分析 | 第83-85页 |
·解压电路设计 | 第85-86页 |
·实验结果 | 第86-88页 |
·本章小结 | 第88-89页 |
第五章 基于幂次数切分的LFSR重播种方案 | 第89-103页 |
·LFSR结构及工作原理简介 | 第89-91页 |
·LFSR基本结构 | 第89-90页 |
·LFSR重播种方法 | 第90-91页 |
·切分思想的提出 | 第91-92页 |
·基于部分测试向量切分的LFSR重播种方案 | 第91-92页 |
·基于奇偶切分的LFSR重播种方案 | 第92页 |
·幂次数切分的LFSR重播种方案 | 第92-100页 |
·本方案的实现策略 | 第93-97页 |
·整体综合过程 | 第97-98页 |
·硬件解压结构 | 第98-99页 |
·实验结果与分析 | 第99-100页 |
·小结 | 第100-103页 |
第六章 总结与展望 | 第103-105页 |
·总结 | 第103-104页 |
·进一步工作 | 第104-105页 |
参考文献 | 第105-111页 |
攻读博士学位期间发表的论文及参加科研情况 | 第111-112页 |