窄脉冲半导体激光器功率测量及校准技术研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-10页 |
第1章 绪论 | 第10-16页 |
·引言 | 第10-12页 |
·国内外研究现状 | 第12-15页 |
·课题研究的主要任务 | 第15-16页 |
第2章 测量方法及测试系统总体设计 | 第16-30页 |
·激光峰值功率测量的理论依据 | 第16页 |
·常用的峰值功率测量方法 | 第16-23页 |
·波形分析法 | 第17-20页 |
·峰值保持法 | 第20-21页 |
·等效采样法 | 第21-23页 |
·测试系统的构成 | 第23-28页 |
·测试原理 | 第23-25页 |
·测试过程需要注意的问题 | 第25-27页 |
·激光器夹具的设计 | 第27-28页 |
·本章小结 | 第28-30页 |
第3章 测量设备的选择及电路设计 | 第30-54页 |
·窄脉冲激光电源的设计 | 第30-39页 |
·窄脉冲发生电路 | 第31-32页 |
·功率放大电路的选择 | 第32-34页 |
·VMOS 功率放大电路设计 | 第34-37页 |
·外围控制及温控电路 | 第37-39页 |
·光探测系统的设计 | 第39-50页 |
·光探测器基本介绍 | 第39-40页 |
·光电探测器性能指标 | 第40-42页 |
·常见光电探测器的特性 | 第42-45页 |
·本系统光电探测器的选择 | 第45-48页 |
·探测口径的设计 | 第48-50页 |
·示波器的选择 | 第50-53页 |
·示波器原理及分类 | 第50-51页 |
·示波器的选择依据及特性 | 第51-53页 |
·本章小结 | 第53-54页 |
第4章 校准方法及软件设计 | 第54-68页 |
·校准用标准光源的选择 | 第54-55页 |
·校准方法的研究与比较 | 第55-60页 |
·在相同波长标准宽脉冲下标定校准系数 | 第56-58页 |
·在相同波长标准窄脉冲下标定校准系数 | 第58-60页 |
·程序设计 | 第60-67页 |
·Agilent VEE 软件简介 | 第60页 |
·软件安装和配置 | 第60-64页 |
·实现面积积分的算法 | 第64-66页 |
·编程实现及操作 | 第66-67页 |
·本章小结 | 第67-68页 |
第5章 实验结果及数据分析 | 第68-80页 |
·标准器的考核 | 第68-72页 |
·量值溯源 | 第68-69页 |
·标准器重复性考核 | 第69-71页 |
·标准器稳定性考核 | 第71-72页 |
·校准系数标定及不确定度分析 | 第72-77页 |
·第一种校准方法实验数据及不确定度分析 | 第72-75页 |
·第二种校准方法实验数据及不确定度分析 | 第75-77页 |
·影响因素分析及改进措施 | 第77-79页 |
·环境因素的影响及改进 | 第77-78页 |
·影响PD 光电检测电路信噪比因素的分析 | 第78-79页 |
·本章小结 | 第79-80页 |
结论 | 第80-82页 |
参考文献 | 第82-87页 |
攻读硕士学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第87-88页 |
致谢 | 第88-89页 |
作者简介 | 第89页 |