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窄脉冲半导体激光器功率测量及校准技术研究

摘要第1-5页
Abstract第5-10页
第1章 绪论第10-16页
   ·引言第10-12页
   ·国内外研究现状第12-15页
   ·课题研究的主要任务第15-16页
第2章 测量方法及测试系统总体设计第16-30页
   ·激光峰值功率测量的理论依据第16页
   ·常用的峰值功率测量方法第16-23页
     ·波形分析法第17-20页
     ·峰值保持法第20-21页
     ·等效采样法第21-23页
   ·测试系统的构成第23-28页
     ·测试原理第23-25页
     ·测试过程需要注意的问题第25-27页
     ·激光器夹具的设计第27-28页
   ·本章小结第28-30页
第3章 测量设备的选择及电路设计第30-54页
   ·窄脉冲激光电源的设计第30-39页
     ·窄脉冲发生电路第31-32页
     ·功率放大电路的选择第32-34页
     ·VMOS 功率放大电路设计第34-37页
     ·外围控制及温控电路第37-39页
   ·光探测系统的设计第39-50页
     ·光探测器基本介绍第39-40页
     ·光电探测器性能指标第40-42页
     ·常见光电探测器的特性第42-45页
     ·本系统光电探测器的选择第45-48页
     ·探测口径的设计第48-50页
   ·示波器的选择第50-53页
     ·示波器原理及分类第50-51页
     ·示波器的选择依据及特性第51-53页
   ·本章小结第53-54页
第4章 校准方法及软件设计第54-68页
   ·校准用标准光源的选择第54-55页
   ·校准方法的研究与比较第55-60页
     ·在相同波长标准宽脉冲下标定校准系数第56-58页
     ·在相同波长标准窄脉冲下标定校准系数第58-60页
   ·程序设计第60-67页
     ·Agilent VEE 软件简介第60页
     ·软件安装和配置第60-64页
     ·实现面积积分的算法第64-66页
     ·编程实现及操作第66-67页
   ·本章小结第67-68页
第5章 实验结果及数据分析第68-80页
   ·标准器的考核第68-72页
     ·量值溯源第68-69页
     ·标准器重复性考核第69-71页
     ·标准器稳定性考核第71-72页
   ·校准系数标定及不确定度分析第72-77页
     ·第一种校准方法实验数据及不确定度分析第72-75页
     ·第二种校准方法实验数据及不确定度分析第75-77页
   ·影响因素分析及改进措施第77-79页
     ·环境因素的影响及改进第77-78页
     ·影响PD 光电检测电路信噪比因素的分析第78-79页
   ·本章小结第79-80页
结论第80-82页
参考文献第82-87页
攻读硕士学位期间承担的科研任务与主要成果第87-88页
致谢第88-89页
作者简介第89页

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