| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-16页 |
| ·检测与识别技术的发展现状 | 第9-11页 |
| ·检测技术的发展现状 | 第9-10页 |
| ·识别技术的发展现状 | 第10-11页 |
| ·可拓学概述 | 第11-15页 |
| ·可拓学的发展历程及其发展现状 | 第11页 |
| ·可拓学的产生背景及理论框架 | 第11-13页 |
| ·可拓检测与识别提出的背景 | 第13-14页 |
| ·可拓检测与识别的意义及应用前景 | 第14-15页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第15页 |
| ·本文的组织结构 | 第15-16页 |
| 第2章 可拓学的相关知识 | 第16-27页 |
| ·物元理论 | 第16-19页 |
| ·物元的概念 | 第16-17页 |
| ·物元的基本变换 | 第17-19页 |
| ·可拓变换的意义 | 第19页 |
| ·可拓集合的相关概念 | 第19-21页 |
| ·距、位值、初等关联函数 | 第21-23页 |
| ·优度评价方法 | 第23-25页 |
| ·优度评价的基本概念 | 第23-24页 |
| ·优度评价的基本步骤 | 第24-25页 |
| ·菱形思维方法 | 第25-27页 |
| 第3章 机器故障模式的可拓检测方法 | 第27-40页 |
| ·可拓检测的基本概念 | 第27页 |
| ·可拓检测的基本思想 | 第27-32页 |
| ·可测物元与不可测物元的可拓变换形式 | 第28-29页 |
| ·可测物元与不可测物元的可拓变换方法 | 第29-31页 |
| ·物元聚焦及结果显形 | 第31-32页 |
| ·检测元的品质计算及可拓检测方案的实现 | 第32-35页 |
| ·检测元的品质计算 | 第32-33页 |
| ·传感器物元模型的构造 | 第33-34页 |
| ·可拓检测方案的实现 | 第34-35页 |
| ·聚类分析在焦点物元提取及可测物元分类中的应用 | 第35-40页 |
| ·聚类分析在焦点物元提取中的应用 | 第36-38页 |
| ·聚类分析在可测物元分类中的应用 | 第38-40页 |
| 第4章 机器故障模式的可拓识别方法 | 第40-49页 |
| ·机器故障模式可拓识别的基本流程 | 第40-44页 |
| ·可拓识别方法在某型内燃机柱塞故障模式识别中的应用 | 第44-49页 |
| ·内燃机压力波简介 | 第44页 |
| ·可拓识别方法在柱塞故障模式识别中的应用 | 第44-47页 |
| ·结果分析及相关问题探讨 | 第47-49页 |
| 参考文献 | 第49-51页 |
| 致谢 | 第51页 |