| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| 第一章 引言 | 第10-14页 |
| ·光电自准直仪的发展概述 | 第10页 |
| ·光电自准直仪的国内外研发现状 | 第10-12页 |
| ·本论文的研究意义及研究内容 | 第12-14页 |
| 第二章 光电自准直仪的工作原理及结构型式 | 第14-22页 |
| ·光电自准直仪的基本构成及工作原理 | 第14-15页 |
| ·国外高精度光电/光学自准直仪的基本结构型式 | 第15-17页 |
| ·德国ELCOMAT HR与ELCOMAT 3000型双轴电子自准直仪的基本型式 | 第15页 |
| ·英国Taylor/Hobson公司的DA20与DA400型双轴光电自准直仪的基本型式 | 第15-16页 |
| ·日本Nikon公司的6B/6D型高精度光学自准直仪的基本型式 | 第16-17页 |
| ·国内光电自准直仪的新型式 | 第17-19页 |
| ·中国计量科学研究院的PSD自准直仪 | 第17-18页 |
| ·成都光电所的光栅自准直仪 | 第18页 |
| ·国防科大的面阵CCD自准直仪 | 第18-19页 |
| ·九江6354所的面阵CCD自准直仪 | 第19页 |
| ·综合分析 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-22页 |
| 第三章 光电自准直系统的关键技术分析 | 第22-30页 |
| ·光电自准直系统实现高精度测量的主要因素 | 第22-23页 |
| ·光电自准直系统中关键技术分析 | 第23-29页 |
| ·分划板的选取 | 第23-24页 |
| ·图像传感器的选择 | 第24-25页 |
| ·软件细分算法——常用算法 | 第25-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第四章 多狭缝光电自准直系统狭缝类型研究 | 第30-56页 |
| ·多狭缝光电自准直系统数学模型——傅里叶分析法 | 第30-37页 |
| ·狭缝的数学模型[33](以四缝为例) | 第30-31页 |
| ·成像光学系统的数学模型 | 第31-34页 |
| ·线阵CCD系统的数学模型 | 第34-35页 |
| ·系统整体描述——光电系统频率域的整体描述 | 第35-37页 |
| ·CCD光电自准直系统软件模拟 | 第37-53页 |
| ·不考虑光学系统的作用，CCD光电自准直系统的软件模拟 | 第37-39页 |
| ·仿真结果(不考虑光学系统的调制作用) | 第39-45页 |
| ·考虑光学系统的作用，CCD光电自准直系统的软件模拟 | 第45-53页 |
| ·狭缝设计方案 | 第53-55页 |
| ·初始选择方案 | 第53-54页 |
| ·狭缝加工设计的方案 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 多狭缝光电自准直系统亚像素细分定位算法研究 | 第56-74页 |
| ·质心算法的改进 | 第56-57页 |
| ·带闭值的质心算法 | 第56-57页 |
| ·基于目标区域划分的质心算法 | 第57页 |
| ·数据插值算法 | 第57-60页 |
| ·局部牛顿插值法(五点) | 第57-58页 |
| ·三次样条插值 | 第58-59页 |
| ·三次卷积插值算法 | 第59-60页 |
| ·数据拟合算法——局部拟合算法 | 第60-63页 |
| ·对数的二次曲线拟合 | 第60-61页 |
| ·二阶正交多项式最小二乘拟合 | 第61-62页 |
| ·直线拟合算法 | 第62-63页 |
| ·通用亚像元边缘检测算法 | 第63页 |
| ·基于梯度的微位移算法 | 第63-64页 |
| ·算法仿真设计流程图及仿真结果 | 第64-73页 |
| ·仿真数据来源 | 第64-65页 |
| ·算法设计的基本思路 | 第65页 |
| ·仿真流程中前期处理阶段算法的实现 | 第65-67页 |
| ·算法仿真流程图 | 第67-69页 |
| ·仿真结果与分析 | 第69-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 第六章 实验设计、结论与分析及展望 | 第74-82页 |
| ·实验系统组成及实验结果 | 第74-80页 |
| ·本论文的研究工作及成果 | 第80-81页 |
| ·展望 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-88页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第88-90页 |
| 致谢 | 第90页 |
