基于片上网络的低功耗测试调度技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 致谢 | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-18页 |
| ·研究背景与挑战 | 第12-15页 |
| ·研究背景 | 第12-13页 |
| ·测试面临的功耗挑战 | 第13-15页 |
| ·低功耗测试研究现状 | 第15-17页 |
| ·本文内容概况 | 第17-18页 |
| 第二章 VLSI 低功耗测试研究 | 第18-30页 |
| ·VLSI 测试基础 | 第18-22页 |
| ·概述 | 第18页 |
| ·数字与模拟 VLSI 测试 | 第18-21页 |
| ·测试经济学 | 第21-22页 |
| ·数字集成电路的测试功耗模型 | 第22-26页 |
| ·功耗术语介绍 | 第22-23页 |
| ·功耗计算模型 | 第23-24页 |
| ·延迟模型 | 第24-25页 |
| ·测试功耗评估方法 | 第25-26页 |
| ·低功耗测试方法 | 第26-30页 |
| ·低功耗外部测试技术 | 第26-27页 |
| ·低功耗内建自测试技术 | 第27-30页 |
| 第三章 NoC 低功耗测试调度方案 | 第30-38页 |
| ·多核测试调度概述 | 第30-31页 |
| ·片上网络测试调度算法 | 第31-33页 |
| ·片上网络基础 | 第31-32页 |
| ·片上网络测试调度问题 | 第32-33页 |
| ·低功耗测试调度算法 | 第33-36页 |
| ·片上网络模型 | 第33-34页 |
| ·调度算法 | 第34-36页 |
| ·实验结果 | 第36-37页 |
| ·结论 | 第37-38页 |
| 第四章 功耗时间协同优化的测试调度方案 | 第38-46页 |
| ·NoC 测试方法分析 | 第38-39页 |
| ·片上网络的特点 | 第38页 |
| ·NoC 的测试分析 | 第38-39页 |
| ·数学模型 | 第39-41页 |
| ·功耗时间协同优化的测试调度算法 | 第41-43页 |
| ·测试重用机制 | 第41页 |
| ·调度算法 | 第41-43页 |
| ·实验结果 | 第43-45页 |
| ·结论 | 第45-46页 |
| 第五章 总结与展望 | 第46-48页 |
| ·总结 | 第46页 |
| ·展望 | 第46-48页 |
| 参考文献 | 第48-54页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第54-55页 |
