| 目录 | 第1-6页 |
| 符号含义 | 第6-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| Abstract | 第9-10页 |
| 第一章 前言 | 第10-20页 |
| ·研究背景 | 第10-13页 |
| ·ADC技术现状、趋势及面临的挑战分析 | 第13-16页 |
| ·论文主要研究内容 | 第16页 |
| ·论文的结构 | 第16-17页 |
| 本章参考文献 | 第17-20页 |
| 第二章 模数转换器(ADC)概述 | 第20-38页 |
| ·ADC的工作原理 | 第20-23页 |
| ·ADC的性能指标 | 第23-28页 |
| ·静态指标 | 第23-25页 |
| ·动态指标 | 第25-27页 |
| ·ADC的分辨率与静态指标动态指标关系 | 第27-28页 |
| ·ADC的分类 | 第28-36页 |
| ·全并行ADC | 第28-29页 |
| ·两步式ADC | 第29页 |
| ·折叠内插ADC | 第29-31页 |
| ·流水线ADC | 第31-32页 |
| ·逐次比较型ADC | 第32-33页 |
| ·∑-△过采样ADC | 第33-35页 |
| ·分类比较 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36页 |
| 本章参考论文 | 第36-38页 |
| 第三章 流水线ADC与非理想因素分析 | 第38-55页 |
| ·流水线ADC与冗余数字校正技术 | 第38-41页 |
| ·流水线ADC架构选取 | 第41-42页 |
| ·流水线ADC的模块分析 | 第42-53页 |
| ·采样保持电路(SHA) | 第42-46页 |
| ·sub-ADC | 第46-47页 |
| ·余量增益放大器 | 第47-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 本章参考论文 | 第54-55页 |
| 第四章 流水线ADC电路模块实现 | 第55-74页 |
| ·运放的设计 | 第55-65页 |
| ·单级套筒式共源共栅运放 | 第55-57页 |
| ·单级折叠式共源共栅运放 | 第57-58页 |
| ·两级运放设计 | 第58-62页 |
| ·增益自举运放设计 | 第62-65页 |
| ·开关管的设计 | 第65-68页 |
| ·比较器的设计 | 第68-71页 |
| ·阻性比例动态比较器 | 第68-71页 |
| ·容性比例动态比较器 | 第71页 |
| ·两相不交叠时钟发生器的设计 | 第71-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 本章参考论文 | 第73-74页 |
| 第五章 低电压低功耗流水线ADC设计 | 第74-92页 |
| ·低功耗ADC设计 | 第74-83页 |
| ·运放输入端电流复用实现连续级间运放共享技术 | 第74-79页 |
| ·改进型不含传统SHA的电路设计 | 第79-81页 |
| ·MDAC闭环带宽建模 | 第81-83页 |
| ·低电压ADC设计 | 第83-90页 |
| ·低电压对模拟电路设计带来的影响 | 第83-85页 |
| ·一种适用于sub-1V电源电压的流水线ADC结构 | 第85-90页 |
| ·本章小结 | 第90页 |
| 本章参考论文 | 第90-92页 |
| 第六章 流水线ADC芯片设计实例 | 第92-112页 |
| ·高速高性能ADC设计(ADC1) | 第92-95页 |
| ·ADC1架构选取 | 第92-93页 |
| ·电路实现 | 第93-95页 |
| ·高速低功耗ADC设计(ADC2) | 第95-96页 |
| ·低电压低功耗ADC设计(ADC3) | 第96-104页 |
| ·信号摆幅与采样电容的关系 | 第97-100页 |
| ·对称型自举开关 | 第100-102页 |
| ·电流/电压参考源及sub-1V带隙基准源 | 第102-104页 |
| ·可配置低电压ADC设计(ADC4) | 第104-108页 |
| ·可配置方案设计 | 第105-106页 |
| ·低电压设计 | 第106-107页 |
| ·高增益套筒式运放设计 | 第107-108页 |
| ·ADC4仿真结果 | 第108页 |
| ·ADC芯片版图设计 | 第108-110页 |
| ·ADC芯片版图设计方法 | 第108-109页 |
| ·ADC芯片版图设计实例 | 第109-110页 |
| ·本章小结 | 第110-111页 |
| 本章参考论文 | 第111-112页 |
| 第七章 流水线ADC芯片测试 | 第112-132页 |
| ·ADC芯片测试方法 | 第112-116页 |
| ·ADC芯片的静态性能测试 | 第112-114页 |
| ·ADC芯片的动态性能测试 | 第114-115页 |
| ·ADC芯片测试板布局布线 | 第115-116页 |
| ·ADC芯片测试方案 | 第116页 |
| ·ADC芯片测试实例 | 第116-130页 |
| ·ADC1测试结果 | 第117-120页 |
| ·ADC2测试结果 | 第120-125页 |
| ·ADC3测试结果 | 第125-130页 |
| ·本章小结 | 第130-131页 |
| 本章参考论文 | 第131-132页 |
| 第八章 总结与展望 | 第132-134页 |
| ·工作总结 | 第132页 |
| ·未来工作展望 | 第132-134页 |
| 发表论文列表 | 第134-136页 |
| A 论文 | 第134页 |
| B 专利 | 第134-135页 |
| C 集成电路布图版权 | 第135-136页 |
| 致谢 | 第136-138页 |