| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 1 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第9-10页 |
| 1.2 磁瓦缺陷检测技术研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 图像语义分割技术研究现状 | 第11-13页 |
| 1.4 主要工作和研究安排 | 第13-14页 |
| 2 磁瓦表面缺陷特性及分析 | 第14-19页 |
| 2.1 磁瓦表面缺陷结构特点 | 第14-16页 |
| 2.2 磁瓦表面缺陷检测分析 | 第16-18页 |
| 2.3 本章小结 | 第18-19页 |
| 3 卷积神经网络理论及语义分割网络设计 | 第19-35页 |
| 3.1 卷积神经网络基本理论 | 第19-21页 |
| 3.2 语义分割网络设计 | 第21-34页 |
| 3.2.1 语义分割网络基本理论 | 第21-22页 |
| 3.2.2 常见语义分割网络基本结构 | 第22-28页 |
| 3.2.3 全卷积密集神经网络设计 | 第28-34页 |
| 3.3 本章小节 | 第34-35页 |
| 4 生成式对抗网络设计 | 第35-42页 |
| 4.1 生成式对抗网络基本理论 | 第35-37页 |
| 4.2 密集生成对抗网络设计 | 第37-41页 |
| 4.3 本章小结 | 第41-42页 |
| 5 磁瓦缺陷检测实验设计和结果分析 | 第42-52页 |
| 5.1 磁瓦缺陷测试系统设计 | 第42-43页 |
| 5.2 缺陷检测网络模型训练 | 第43-46页 |
| 5.2.1 实验平台搭建 | 第43-44页 |
| 5.2.2 实验数据集设计 | 第44-45页 |
| 5.2.3 训练参数设置 | 第45-46页 |
| 5.3 缺陷检测网络模型测试 | 第46-51页 |
| 5.3.1 密集生成对抗网络与全卷积密集神经网络实验对比 | 第46-48页 |
| 5.3.2 密集生成对抗网络与其他生成对抗网络实验对比 | 第48-51页 |
| 5.4 本章小结 | 第51-52页 |
| 6 总结与展望 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-58页 |
| 攻读硕士学位期间主要的研究成果 | 第58页 |