| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-19页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-15页 |
| 1.3 绝缘子红外检测技术研究现状 | 第15-17页 |
| 1.4 课题的来源 | 第17页 |
| 1.5 本文的主要内容和创新点 | 第17-19页 |
| 1.5.1 本文的主要内容 | 第17-18页 |
| 1.5.2 本文的主要创新点 | 第18-19页 |
| 第2章 瓷质绝缘子发热理论及红外检测技术原理 | 第19-33页 |
| 2.1 瓷质绝缘子发热理论 | 第19-26页 |
| 2.1.1 瓷质绝缘子劣化的原因及危害 | 第19-20页 |
| 2.1.2 瓷质绝缘子串电压分布 | 第20-22页 |
| 2.1.3 瓷质绝缘子发热模型 | 第22-23页 |
| 2.1.4 瓷质绝缘子发热特性分析模型 | 第23-25页 |
| 2.1.5 瓷质绝缘子温升估算 | 第25-26页 |
| 2.2 瓷质绝缘子红外检测技术基本原理 | 第26-31页 |
| 2.2.1 红外辐射的基本理论 | 第26-28页 |
| 2.2.2 红外热像仪的组成及工作原理 | 第28-29页 |
| 2.2.3 红外检测影响因素分析 | 第29-31页 |
| 2.2.4 红外诊断的基本方法 | 第31页 |
| 2.3 本章小结 | 第31-33页 |
| 第3章 瓷质绝缘子红外检测技术实验研究 | 第33-49页 |
| 3.1 实验简介 | 第33-36页 |
| 3.2 室内模拟试验 | 第36-47页 |
| 3.2.1 环境因素对瓷质绝缘子串红外特征的影响试验 | 第36-41页 |
| 3.2.2 瓷质劣化绝缘子处于不同位置时绝缘子串红外特征 | 第41-45页 |
| 3.2.3 瓷质劣化绝缘子阻值改变时绝缘子串红外特征 | 第45-47页 |
| 3.3 现场验证实验 | 第47-48页 |
| 3.4 本章小结 | 第48-49页 |
| 第4章 红外图像中绝缘子钢帽和盘面区域自动提取 | 第49-66页 |
| 4.1 绝缘子钢帽和盘面区域分割提取的必要性 | 第49页 |
| 4.2 红外图像的特征 | 第49-50页 |
| 4.3 红外图像中绝缘子钢帽和盘面区域提取方法 | 第50-64页 |
| 4.3.1 红外图像预处理 | 第50-55页 |
| 4.3.2 绝缘子串自动定位算法 | 第55-56页 |
| 4.3.3 绝缘子串图像角度校正 | 第56-60页 |
| 4.3.4 绝缘子片提取 | 第60-61页 |
| 4.3.5 绝缘子片验证识别 | 第61-63页 |
| 4.3.6 钢帽和盘面区域提取 | 第63-64页 |
| 4.4 对比分析 | 第64-65页 |
| 4.5 本章小结 | 第65-66页 |
| 第5章 基于在线序列极限学习机的劣化绝缘子识别模型设计 | 第66-75页 |
| 5.1 在线序列极限学习机基本原理 | 第66-70页 |
| 5.1.1 极限学习机算法原理 | 第66-68页 |
| 5.1.2 在线序列极限学习机算法原理 | 第68-70页 |
| 5.2 在线序列极限学习机算法改进 | 第70-71页 |
| 5.2.1 粒子群优化算法原理 | 第70-71页 |
| 5.2.2 PSO优化OS-ELM网络结构 | 第71页 |
| 5.3 劣化绝缘子识别模型设计 | 第71-72页 |
| 5.4 模型性能检验 | 第72-73页 |
| 5.5 本章小结 | 第73-75页 |
| 结论与展望 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 附录A 攻读硕士学位期间所发表的主要学术论文目录 | 第83-84页 |
| 附录B 攻读学位期间所参加的科研项目目录 | 第84页 |
