集成处理器紧凑型测试系统研制
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 课题背景及研究目的和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状分析 | 第10-14页 |
| 1.2.1 自动测试系统研究现状 | 第10-13页 |
| 1.2.2 集成处理器测试系统研究现状 | 第13页 |
| 1.2.3 测试系统研究现状总结 | 第13-14页 |
| 1.3 本文的研究内容与结构 | 第14-16页 |
| 第2章 集成处理器紧凑型测试系统总体方案 | 第16-27页 |
| 2.1 集成处理器测试的基本原理 | 第16-17页 |
| 2.2 测试系统技术指标与需求分析 | 第17-18页 |
| 2.2.1 测试系统技术指标 | 第17页 |
| 2.2.2 测试系统需求分析 | 第17-18页 |
| 2.3 测试系统总体方案 | 第18-26页 |
| 2.3.1 测试系统硬件方案 | 第19-24页 |
| 2.3.2 测试系统软件方案 | 第24-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 系统硬件详细设计 | 第27-50页 |
| 3.1 通用模块背板总线接口设计 | 第27-32页 |
| 3.1.1 背板总线接口电路设计 | 第27-29页 |
| 3.1.2 背板总线固件逻辑设计 | 第29-32页 |
| 3.2 通用模块基础电源电路设计 | 第32-36页 |
| 3.2.1 热插拔电路设计 | 第33-35页 |
| 3.2.2 电源转换电路设计 | 第35-36页 |
| 3.3 通用模块测试接口单元设计 | 第36-49页 |
| 3.3.1 模拟I/O接口单元设计 | 第36-42页 |
| 3.3.2 数字I/O接口单元设计 | 第42-44页 |
| 3.3.3 RS485接口单元设计 | 第44-47页 |
| 3.3.4 LVDS接口单元设计 | 第47-49页 |
| 3.4 本章小结 | 第49-50页 |
| 第4章 系统软件详细设计 | 第50-61页 |
| 4.1 系统嵌入式软件设计 | 第50-57页 |
| 4.1.1 嵌入式软件开发工具 | 第50-51页 |
| 4.1.2 嵌入式操作系统移植 | 第51-53页 |
| 4.1.3 模块测试功能管理及调度 | 第53-57页 |
| 4.2 系统应用软件设计 | 第57-60页 |
| 4.2.1 用户注册及管理 | 第57-58页 |
| 4.2.2 仪器资源检测与配置 | 第58-59页 |
| 4.2.3 测试流程生成与执行 | 第59-60页 |
| 4.2.4 数据存储与显示 | 第60页 |
| 4.3 本章小结 | 第60-61页 |
| 第5章 系统调试与验证 | 第61-83页 |
| 5.1 调试环境与流程 | 第61-62页 |
| 5.1.1 系统总体调试方案 | 第61页 |
| 5.1.2 系统调试环境搭建 | 第61-62页 |
| 5.2 系统硬件功能调试 | 第62-71页 |
| 5.2.1 系统背板总线功能调试 | 第62-66页 |
| 5.2.2 模块测试接口功能调试 | 第66-71页 |
| 5.3 系统软件功能测试 | 第71-79页 |
| 5.3.1 用户注册及管理测试 | 第71-73页 |
| 5.3.2 仪器资源检测与配置测试 | 第73-75页 |
| 5.3.3 测试流程生成与执行测试 | 第75-76页 |
| 5.3.4 测试数据存储与显示测试 | 第76-79页 |
| 5.4 系统集成与整体测试 | 第79-82页 |
| 5.5 本章小结 | 第82-83页 |
| 结论 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-88页 |
| 附录 | 第88-90页 |
| 致谢 | 第90页 |
