| 中文摘要 | 第3-5页 |
| 英文摘要 | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 引言 | 第10页 |
| 1.2 课题的研究背景和意义 | 第10-12页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.4 本文主要内容及结构 | 第15-18页 |
| 1.4.1 主要内容 | 第15-16页 |
| 1.4.2 文章结构 | 第16-18页 |
| 2 测量原理与系统设计 | 第18-24页 |
| 2.1 光路设计 | 第18-20页 |
| 2.1.1 直射式激光三角测量法 | 第18-19页 |
| 2.1.2 斜射式激光三角测量法 | 第19-20页 |
| 2.1.3 光路选择 | 第20页 |
| 2.2 感测头结构设计 | 第20-22页 |
| 2.3 系统总体设计 | 第22-24页 |
| 3 硬件设计 | 第24-52页 |
| 3.1 感测头硬件设计 | 第24-32页 |
| 3.1.1 线阵CCD的选择 | 第24-26页 |
| 3.1.2 基于CPLD的控制电路 | 第26-28页 |
| 3.1.3 激光驱动及亮度自适应调节电路 | 第28-30页 |
| 3.1.4 信号预处理电路 | 第30-32页 |
| 3.2 主控板硬件设计 | 第32-44页 |
| 3.2.1 高速AD转换电路 | 第33-35页 |
| 3.2.2 高速比较与逻辑模块 | 第35-36页 |
| 3.2.3 FIFO模块 | 第36-38页 |
| 3.2.4 DSP主控电路 | 第38-41页 |
| 3.2.5 外部扩展RAM及EEPROM存储器 | 第41-42页 |
| 3.2.6 SCI串口调试模块 | 第42-43页 |
| 3.2.7 USB高速传输模块 | 第43-44页 |
| 3.3 显示操作面板硬件设计 | 第44-46页 |
| 3.3.1 CH452 及外围电路 | 第45页 |
| 3.3.2 数码管、LED、按键电路 | 第45-46页 |
| 3.4 系统电源设计 | 第46-47页 |
| 3.5 PCB设计 | 第47-52页 |
| 4 基于Verilog HDL的CPLD程序设计 | 第52-60页 |
| 4.1 Quartus II集成开发环境介绍 | 第52页 |
| 4.2 Verilog HDL介绍 | 第52-53页 |
| 4.3 TCD1703C驱动模块设计 | 第53-57页 |
| 4.3.1 TCD1703C时序分析 | 第53-54页 |
| 4.3.2 基于Verilog HDL的TCD1703C驱动程序设计 | 第54-56页 |
| 4.3.3 TCD1703C驱动模块时序仿真 | 第56-57页 |
| 4.4 数控电位器MCP41050 驱动模块设计 | 第57-58页 |
| 4.4.1 基于Verilog HDL的MCP41050 驱动程序设计 | 第57-58页 |
| 4.4.2 MCP41050 驱动模块时序仿真 | 第58页 |
| 4.5 顶层模块设计 | 第58-60页 |
| 5 DSP软件设计 | 第60-76页 |
| 5.1 CCS3.3 集成开发环境与DSP编程方法 | 第60-62页 |
| 5.1.1 CCS3.3 集成开发环境 | 第60-61页 |
| 5.1.2 DSP编程方法 | 第61-62页 |
| 5.2 DSP程序流程 | 第62-64页 |
| 5.3 系统初始化 | 第64-65页 |
| 5.4 外部RAM存储空间分配 | 第65页 |
| 5.5 外设使能 | 第65-66页 |
| 5.6 CH452 控制函数设计 | 第66-67页 |
| 5.7 参数设置菜单结构设计 | 第67-69页 |
| 5.8 测量过程设计 | 第69-72页 |
| 5.8.1 低速测量过程 | 第69-70页 |
| 5.8.2 高速测量过程 | 第70-71页 |
| 5.8.3 数据处理方法 | 第71-72页 |
| 5.9 亮度自适应调节设计 | 第72页 |
| 5.10 上位机通信设计 | 第72-73页 |
| 5.11 CMD文件设计 | 第73-76页 |
| 6 上位机软件设计 | 第76-80页 |
| 6.1 上位机软件需求分析 | 第76-77页 |
| 6.1.1 上位机软件功能分析 | 第76页 |
| 6.1.2 编程语言选择和通讯接口 | 第76-77页 |
| 6.2 上位机软件实现 | 第77-80页 |
| 6.2.1 上位机软件界面介绍 | 第77-78页 |
| 6.2.2 上位机软件操作介绍 | 第78页 |
| 6.2.3 上位机软件效果 | 第78-80页 |
| 7 实验结果与分析 | 第80-94页 |
| 7.1 CCD驱动实验 | 第80-81页 |
| 7.2 激光亮度自适应调节实验 | 第81-83页 |
| 7.3 低速测量模式实验 | 第83-84页 |
| 7.4 高速测量模式实验 | 第84-85页 |
| 7.5 系统误差测量 | 第85-86页 |
| 7.6 模拟的药物洗脱支架涂层厚度测量实验 | 第86-90页 |
| 7.7 真实的药物洗脱支架涂层测量实验 | 第90-94页 |
| 8 总结和展望 | 第94-96页 |
| 8.1 总结 | 第94-95页 |
| 8.2 展望 | 第95-96页 |
| 致谢 | 第96-98页 |
| 参考文献 | 第98-102页 |
| 附录 | 第102页 |
