| 摘要 | 第6-8页 |
| ABSTRACT | 第8-9页 |
| 第一章 绪论 | 第14-21页 |
| 1.1 研究背景 | 第14-15页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第15-18页 |
| 1.2.1 流密码的发展 | 第15-16页 |
| 1.2.2 旁路攻击的发展 | 第16-18页 |
| 1.3 研究内容 | 第18-20页 |
| 1.4 论文结构 | 第20-21页 |
| 第二章 流密码和故障攻击 | 第21-36页 |
| 2.1 流密码算法概述 | 第21-23页 |
| 2.2 故障攻击概述 | 第23-25页 |
| 2.3 故障模型 | 第25-26页 |
| 2.4 故障注入 | 第26-27页 |
| 2.5 实验环境和步骤 | 第27-31页 |
| 2.6 防护技术 | 第31-34页 |
| 2.6.1 基于检测的防护方法 | 第31-32页 |
| 2.6.2 基于扩散的防护方法 | 第32-33页 |
| 2.6.3 综合型防护方法 | 第33-34页 |
| 2.6.4 抗故障攻击的电路单元 | 第34页 |
| 2.7 本章小结 | 第34-36页 |
| 第三章 流密码 SOSEMANUK 的故障攻击 | 第36-46页 |
| 3.1 SOSEMANUK 算法简介 | 第36-39页 |
| 3.1.1 线性反馈移位寄存器（LFSR） | 第37页 |
| 3.1.2 有限状态机（FSM） | 第37-38页 |
| 3.1.3 非线性 S-box 函数（Serpent1） | 第38页 |
| 3.1.4 输出变换 | 第38-39页 |
| 3.2 SOSEMANUK 的故障攻击 | 第39-44页 |
| 3.2.1 基本原理 | 第39-40页 |
| 3.2.2 故障密文分类 | 第40-41页 |
| 3.2.3 缩小 LFSR 寄存器的取值范围 | 第41-43页 |
| 3.2.4 恢复剩余寄存器状态 | 第43-44页 |
| 3.3 本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 流密码 ZUC 的故障攻击 | 第46-55页 |
| 4.1 ZUC 算法简介 | 第46-50页 |
| 4.1.1 线性反馈移位寄存器（LFSR） | 第47-48页 |
| 4.1.2 位重组（BR） | 第48页 |
| 4.1.3 非线性函数 F | 第48-50页 |
| 4.2 ZUC 的故障攻击 | 第50-54页 |
| 4.2.1 基本原理 | 第50-51页 |
| 4.2.2 计算 S0的差分 | 第51页 |
| 4.2.3 计算 X0的差分 | 第51-52页 |
| 4.2.4 缩小内部状态的取值范围 | 第52-54页 |
| 4.3 本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 实验结果与分析 | 第55-62页 |
| 5.1 SOSEMANUK 算法故障攻击的实验 | 第55-58页 |
| 5.2 ZUC 算法故障攻击的实验 | 第58-62页 |
| 第六章 总结与展望 | 第62-64页 |
| 6.1 已有工作总结 | 第62页 |
| 6.2 研究工作展望 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 附录 1 | 第66-68页 |
| 附录 2 | 第68-71页 |
| 附录 3 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第73页 |