宽带宽角度扫描平板阵列天线技术研究
摘要 | 第3-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
目录 | 第7-9页 |
图录 | 第9-12页 |
表录 | 第12-13页 |
第一章 绪论 | 第13-20页 |
1.1 研究背景和意义 | 第13-14页 |
1.2 研究进展 | 第14-18页 |
1.2.1 宽带宽波束单元 | 第14-16页 |
1.2.2 阵列去耦技术 | 第16-18页 |
1.2.3 宽带宽波束阵列 | 第18页 |
1.3 本文的主要工作及安排 | 第18-20页 |
第二章 宽带宽角度扫描印刷偶极子阵列 | 第20-39页 |
2.1 引言 | 第20页 |
2.2 带背腔的印刷偶极子天线单元 | 第20-29页 |
2.2.1 天线原理 | 第20-25页 |
2.2.2 天线结构 | 第25-28页 |
2.2.3 仿真结果 | 第28-29页 |
2.3 八单元印刷偶极子天线阵列 | 第29-35页 |
2.3.1 阵列结构与去耦设计 | 第29-30页 |
2.3.2 无源驻波分析 | 第30-31页 |
2.3.3 有源驻波分析 | 第31-35页 |
2.4 天线阵列测试和结果分析 | 第35-38页 |
2.4.1 测试方法 | 第35-36页 |
2.4.2 测试结果 | 第36-38页 |
2.5 本章小结 | 第38-39页 |
第三章 宽带宽角度扫描印刷缝隙阵列 | 第39-59页 |
3.1 引言 | 第39页 |
3.2 印刷宽缝隙天线原理 | 第39-44页 |
3.2.1 印刷缝隙天线 | 第39-41页 |
3.2.2 馈电方式 | 第41页 |
3.2.3 辐射原理 | 第41-44页 |
3.3 带背腔的印刷宽缝隙天线单元 | 第44-52页 |
3.3.1 天线结构 | 第44-45页 |
3.3.2 背腔参数性能分析 | 第45-48页 |
3.3.3 缝隙参数性能分析 | 第48-50页 |
3.3.4 仿真结果 | 第50-52页 |
3.4 八单元印刷宽缝隙天线阵列 | 第52-56页 |
3.4.1 阵列结构 | 第52页 |
3.4.2 无源驻波分析 | 第52-53页 |
3.4.3 有源驻波分析 | 第53-56页 |
3.5 天线阵列测试和结果分析 | 第56-58页 |
3.6 本章小结 | 第58-59页 |
第四章 带 U 型去耦振子的微带扫描阵列 | 第59-66页 |
4.1 引言 | 第59页 |
4.2 矩形印刷微带天线单元 | 第59-61页 |
4.2.1 天线结构 | 第59-60页 |
4.2.2 仿真结果 | 第60-61页 |
4.3 四单元矩形印刷微带天线阵列 | 第61-65页 |
4.3.1 阵列结构与去耦设计 | 第61-62页 |
4.3.2 无源驻波分析 | 第62页 |
4.3.3 有源驻波分析 | 第62-65页 |
4.4 本章小结 | 第65-66页 |
第五章 总结与展望 | 第66-68页 |
5.1 全文总结 | 第66-67页 |
5.2 研究展望 | 第67-68页 |
致谢 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-73页 |
攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第73-75页 |