| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 目录 | 第8-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| ·无线接收系统中A/D转换器 | 第11-12页 |
| ·模/数转换器(A/D转换器)的发展历程 | 第12-13页 |
| ·A/D转换器的应用与研究状况 | 第13-15页 |
| ·主要工作及创新点 | 第15页 |
| ·论文的组织结构 | 第15-16页 |
| ·本章小结 | 第16-17页 |
| 第二章 A/D转换器概述 | 第17-35页 |
| ·理想的A/D转换器 | 第17-18页 |
| ·A/D转换器的参数定义 | 第18-24页 |
| ·静态参数 | 第18-21页 |
| ·动态参数 | 第21-24页 |
| ·几种典型结构的A/D转换器 | 第24-33页 |
| ·A/D转换器的分类 | 第24页 |
| ·全并行快闪(Flash)型A/D转换器 | 第24-25页 |
| ·两步快闪(Two-Step Flash)型A/D转换器 | 第25-26页 |
| ·内插(Interpolating)型A/D转换器 | 第26-27页 |
| ·折叠(Folding)型A/D转换器 | 第27-28页 |
| ·逐次逼近(Successive Approixmation)型A/D转换器 | 第28-29页 |
| ·过采样∑—△(Sigma Delta)型A/D转换器 | 第29-30页 |
| ·流水线(Pipelined)型A/D转换器 | 第30页 |
| ·时间交织型(Time-Interleaved)A/D转换器 | 第30-31页 |
| ·Algorithmic(or Cyclic)型A/D转换器 | 第31-32页 |
| ·积分(Integrating)型A/D转换器 | 第32-33页 |
| ·一种基于流水线型和时间交织型的新型A/D转换器 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第三章 10 bit流水线A/D转换器系统设计 | 第35-49页 |
| ·流水线型A/D转换器工作原理 | 第35-40页 |
| ·流水线型A/D转换器结构 | 第35页 |
| ·流水线型A/D转换器工作原理 | 第35-38页 |
| ·流水线型A/D转换器数字纠错技术 | 第38-40页 |
| ·流水线型A/D转换器量化的选择 | 第40-45页 |
| ·流水线型A/D转换器量化范围和功耗关系 | 第40-42页 |
| ·流水线型A/D转换器每级量化与转换器精度关系 | 第42-43页 |
| ·流水线型A/D转换器每级量化与转换器速度关系 | 第43-44页 |
| ·流水线型A/D转换器每级量化与OTA开环增益关系 | 第44-45页 |
| ·无线收发系统中10 bit高速A/D转换器系统设计 | 第45-48页 |
| ·bit流水线型A/D转换器系统设计 | 第45-46页 |
| ·热噪声对系统的影响 | 第46-47页 |
| ·关键模块的设计重点 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第四章 A/D转换器1.5 bit级电路设计 | 第49-68页 |
| ·bit级电路的结构 | 第49页 |
| ·子ADC设计 | 第49-52页 |
| ·bit子ADC | 第49-50页 |
| ·比较器失调对系统的影响 | 第50-51页 |
| ·高速动态比较器的电路设计 | 第51-52页 |
| ·子DAC设计 | 第52-54页 |
| ·DAC误差对系统的影响 | 第52-53页 |
| ·子DAC电路设计 | 第53-54页 |
| ·余量增益电路设计 | 第54-58页 |
| ·采样电容建立误差对系统的影响 | 第54-55页 |
| ·余量增益误差给系统带来的影响 | 第55-56页 |
| ·余量增益电路设计 | 第56-58页 |
| ·跨导放大器(OTA)设计 | 第58-61页 |
| ·运放非线性误差对系统的影响 | 第58页 |
| ·OTA电路设计 | 第58-61页 |
| ·开关的设计 | 第61-62页 |
| ·带有dummy的NMOS开关 | 第61-62页 |
| ·Bootstrapped NMOS开关 | 第62页 |
| ·bit级电路版图设计和仿真结果 | 第62-67页 |
| ·版图设计规则—对称性设计 | 第62-63页 |
| ·比较器版图与仿真结果 | 第63-64页 |
| ·OTA版图与仿真结果 | 第64-65页 |
| ·bit级电路版图与仿真结果 | 第65-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第五章 A/D转换器流水线链电路设计 | 第68-73页 |
| ·流水线链设计 | 第68页 |
| ·bit级电路的结构 | 第68-69页 |
| ·S/H电路设计 | 第69页 |
| ·Bias设计 | 第69-71页 |
| ·版图设计与仿真结果 | 第71-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 第六章 系统中数字电路设计 | 第73-77页 |
| ·时钟网络设计 | 第73-74页 |
| ·时钟抖动噪声对系统的影响 | 第73-74页 |
| ·时钟网络电路设计 | 第74页 |
| ·数字校准电路设计 | 第74-75页 |
| ·系统版图 | 第75-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 第七章 芯片封装与测试 | 第77-89页 |
| ·芯片的管脚与封装 | 第77-79页 |
| ·测试方案设计 | 第79-83页 |
| ·A/D转换器的测试方法 | 第79-80页 |
| ·测试系统 | 第80-81页 |
| ·单双端转换电路 | 第81页 |
| ·片外参考电压生成电路 | 第81-82页 |
| ·测试板电源处理 | 第82页 |
| ·芯片测试连接 | 第82-83页 |
| ·PCB板设计 | 第83-84页 |
| ·测试结果分析 | 第84-89页 |
| 第八章 总结与展望 | 第89-91页 |
| ·本文总结 | 第89页 |
| ·进一步设计展望 | 第89-91页 |
| 参考文献 | 第91-94页 |
| 攻读硕士学位期间的论文发表与专利申请情况 | 第94-95页 |
| 致谢 | 第95页 |
