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WO3准一维纳米结构H2S气敏性能研究

摘要第3-4页
ABSTRACT第4-5页
第一章 绪论第8-18页
    1.1 引言第8-9页
    1.2 气敏传感器第9-15页
        1.2.1 气敏传感器的分类第10-12页
        1.2.2 气敏传感器的发展第12-15页
    1.3 本文的研究意义及目的第15-16页
    1.4 本文的主要研究内容和创新点第16-18页
第二章 WO_3准一维纳米器件的构筑及测试平台的搭建第18-28页
    2.1 WO_3的结构与性质第18-19页
    2.2 WO_3一维纳米结构的制备第19-20页
    2.3 WO_3形貌和结构的表征第20-24页
        2.3.1 WO_3纳米线的XRD分析第21-22页
        2.3.2 WO_3纳米线的SEM分析及能谱分析第22-24页
    2.4 纳米器件的构筑第24-26页
    2.5 气敏测试平台的搭建第26-28页
第三章 H2S对单根W03纳米线器件气敏性能的影响第28-38页
    3.1 背景第28-29页
    3.2 WO_3的气敏机理第29页
    3.3 H_2S对欧姆接触WO_3器件气敏性能的影响第29-36页
    3.4 H_2S对双肖特基接触WO_3器件气敏性能的影响第36-37页
    3.5 小结第37-38页
第四章 H_2S对WO_3器件记忆效应的影响第38-42页
    4.1 背景第38页
    4.2 H_2S对WO_3器件记忆效应的影响第38-41页
    4.3 小结第41-42页
第五章 总结与展望第42-44页
参考文献第44-52页
附录:攻读硕士学位期间论文发表情况第52-54页
致谢第54-56页

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